ZHCAFI4 July   2025 ISOS141-SEP , TMS570LC4357-SEP , TPS7H2140-SEP

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1引言：TI 航天级产品系列
  5. 2故障监测：测量关键要素
    1. 2.1 电流监测
    2. 2.2 电压比较和阈值检测
    3. 2.3 温度检测
  6. 3精密数据采集
  7. 4决策：从简单逻辑到智能控制
    1. 4.1 基于逻辑的决策路径
    2. 4.2 基于 MCU 的控制
  8. 5隔离和遏制：防止故障传播
  9. 6通过智能冗余确保电源可用性
    1. 6.1 基于二极管的冗余
  10. 7总结
  11. 8参考

3 精密数据采集

对于需要对多个模拟参数进行高分辨率监测的系统，TI 提供了具有可扩展通道数、集成基准电压和自检功能的精密 ADC。

ADC128S102QML-SP 和 ADC128S102-SEP 在市场上颇受欢迎，可满足此类 FDIR 基本要求，每个器件具有八个个 12 位模数 (ADC) 通道，并支持 50kSPS 至 1MSPS 的采样率能力。

为满足更高的分辨率需求，ADC168M102R-SEP 可为多达八个 16 位 ADC 通道提供双路同步采样（采样率为 1Msps），并集成两个 DAC 以输出两个独立的基准电压。

如果需要更高的通道数，TMUX582F-SEP 支持 8:1 多路复用输入通道，输入电压可达 ±16.5V，过压保护可达 ±60V。

此类高通道数器件可实现高效、灵活的信号采集，同时兼顾可靠性，即使在恶劣条件或多变输入环境下也是如此。