ZHDA048 January   2026 AMC3330-Q1 , INA148-Q1 , TPS61170-Q1 , TPSI2240-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
    1. 1.1 背景
    2. 1.2 工作原理
  5. 2硬件设计
    1. 2.1 固态继电器 (SSR)
    2. 2.2 电阻器
      1. 2.2.1 最小电阻
      2. 2.2.2 最大电阻
      3. 2.2.3 电阻比
    3. 2.3 辅助电源
    4. 2.4 放大器
      1. 2.4.1 低电压侧的 MCU
      2. 2.4.2 交流侧的 MCU
  6. 3软件设计
    1. 3.1 趋稳时间
    2. 3.2 SSR 序列
    3. 3.3 电压阈值
    4. 3.4 移动平均值
    5. 3.5 合理性检查
    6. 3.6 控制方案摘要
  7. 4仿真结果
    1. 4.1 趋稳时间
    2. 4.2 输入电压范围
    3. 4.3 合理性检查
    4. 4.4 精度
    5. 4.5 Y 电容器的影响
  8. 5总结
  9. 6参考资料

3.4 移动平均值

如节 3.1 中所分析，由于趋稳时间的影响，从闭合开关到开始 IMD 计算需要一些时间。因此，滤除 Vin(AC) 影响的方法是通过移动平均算法，而不是在 VAC 过零点处执行 IMD 计算。

在 40ms 的 SSR 闭合期内，必须对 Rin 上的电压进行多次采样并取平均值，以获得已滤除交流电网电压影响的直流电压值。根据奈奎斯特定理，采样率必须至少是带宽的两倍。为了更好地恢复电压信号，采样率设置为带宽的 20 倍，即 1000Hz。在 40ms 内，MCU 总共对 40 个点进行采样，软件需要对这 40 个点的值求平均值以获得直流电压值。使用更多的采样点来测量移动平均值有利于提高抗噪性。