ZHDA048 January 2026 AMC3330-Q1 , INA148-Q1 , TPS61170-Q1 , TPSI2240-Q1
如方程式 5 所示,IMD 系统需要设置足够长的趋稳时间,以减少 Y 电容器对 IMD 精度的影响。根据方程式 5,不同的绝缘电阻对应不同的最小趋稳时间。当发生绝缘故障时,趋稳时间要求低于正常状态下的趋稳时间要求。趋稳时间的最坏情况是处于正常状态,此时绝缘电阻远高于接通电阻;这种情况下方程式 5 可以表示为:
假设 VDC 为 40V,Y 电容器为 10nF,将表 2-2 中的电阻值代入方程式 23,时间常数为 16.15ms,因此最小趋稳时间为 48.45ms。
首选趋稳时间为 48.45ms,因为在任何情况下,10nF Y 电容器的影响都会保持在 5% 以下。但是,这种情况会导致绝缘监测持续时间过长。在实际应用中,无需计算正常状态下的绝缘电阻。只有在接近绝缘故障阈值时才需要精确测量绝缘电阻。
因此,假设 0Ω 到 500kΩ 的绝缘电阻是需要更高测量精度的值范围;在方程式 5 中将 RisoP 和 RisoN 替换为 500kΩ,所需的时间常数可计算为 τ = 6ms,因此最小趋稳时间为 18ms。由于移动平均块的窗口时间为 20ms,这意味着在 SSR 闭合后,持续时间至少为 20ms 以准确滤除交流电压的影响。因此,趋稳时间设置为 20ms。