为防止保险丝熔断测试期间电路板功能受损,EVM 实际上未提供化学保险丝。如果发生保险丝熔断情况,FET Q5 会将 FUSE 测试点驱动为低电平。由于 FUSE 连接到开漏 FET,因此需要借助上拉电阻器来检查 FUSE 是否拉至低电平。由于 FUSEPIN 测试点连接到 Q5 的栅极,因此可通过监测 FUSEPIN 来进行测试,无需添加上拉电阻器。bq40z50 数据表中显示了应用板上的保险丝位置。化学保险丝也可焊接到 EVM 上以进行系统内测试。PCB 上包含一个铜桥来绕过化学保险丝,因此必须切断该电桥以使保险丝断开电源路径。图 4-1 上的切断位置以黄色显示,且箭头指向该位置。