11 修订历史记录
All Revision History Changes Intro HTMLJuly 30, 2025 to July 31, 2026 (from Revision* (July 2025)to RevisionA (July 2026))
- 更新了特性Go
- 从数据表中删除了 VSSOP32 封装Go
- 使用更新后的值更新了说明Go
- 更新了功能方框图Go
- 从数据表器件比较和封装信息、机械制图中删除了 NNA/VFC 封装Go
- 删除了 PA26/PA27 上的 LFXT 功能以及脚注 (1) 和 (2)Go
- 拆分了信号说明表以包含 VREF 和 PMUGo
- 新增了引脚属性概述Go
- 更新了按 IO 类型分类的数字 IO 功能Go
- 添加了温度传感器修整温度和温度系数的测试条件Go
- 更新了 IO 端口输出频率测试条件Go
- 将 LFXT 电流消耗从 300nA 更新为 200nA(典型值)Go
- 更正了电源斜升图 BOR 置位Go
- 添加了指示 sysoc 精度测试条件的 SYSOSC 脚注Go
- 将闪存耐用性参数从“UPPER”和“LOWER”分别更新为“HI_ENDURANCE”和“NORMAL_ENDURANCE”,并增加了一条补充说明脚注Go
- 更新了规格Go
- 更新了章节Go
- 添加了有关正确 NONMAIN 配置策略的表注 2。Go
- 阐明了 FIFO 条目说明Go
- 阐明了 FIFO 条目说明Go
- 阐明了 FIFO 条目说明Go
- 添加了“DEGUGSS”部分Go
- 更新了“机械”部分Go