ZHCSPU9B February 2024 – October 2025 TCAN1575-Q1 , TCAN1576-Q1
PRODUCTION DATA
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| CAN 收发器开关特性 | ||||||
| tprop(TxD-busdom) | 传播延迟时间，高电平到低电平的 TXD 边沿到总线显性状态（隐性状态到显性状态） |
45Ω ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，RCM = 开路；请参阅接收器测试电路与测量；TXD 上的输入信号的上升时间（10% 至 90%）和下降时间（90% 至 10%）应小于 10ns |
80 | ns | ||
| tprop(TxD-busrec) | 传播延迟时间，低电平到高电平的 TXD 边沿到总线隐性状态（显性状态到隐性状态） | 80 | ns | |||
| tsk(p) | 脉冲偏斜 (|tpHR – tpLD|) | 10 | 40 | ns | ||
| tR/F | 差分输出信号上升时间 | 5 | 55 | 75 | ns | |
| tprop(busdom-RxD) | 传播延迟时间，总线显性输入到 RxD 低电平输出 | CL(RXD) = 15pF； 请参阅接收器测试电路与测量；TXD 上的输入信号的上升时间（10% 至 90%）和下降时间（90% 至 10%）应小于 10ns |
110 | ns | ||
| tprop(busrec-RxD) | 传播延迟时间，总线隐性输入到 RXD 高电平输出 | 110 | ns | |||
| tPROP(LOOP1) | 总环路延迟，驱动器输入 (TXD) 到接收器输出 (RXD)，显性状态至隐性状态 | 45Ω ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
100 | 190 | ns | |
| tPROP(LOOP2) | 总循环延迟，驱动器输入 (TXD) 至接收器输出 (RXD)，隐性状态至显性状态 | 45Ω ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
110 | 190 | ns | |
| CAN FD 位时序 | ||||||
| tBIT(BUS)(1) | 2Mbps tBIT(TXD) = 500ns 时 CAN 总线输出引脚上的位时间 | 45Ω ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
490 | 510 | ns | |
| 5Mbps tBIT(TXD) = 200ns 时 CAN 总线输出引脚上的位时间 | 190 | 210 | ||||
| tBIT(BUS)(1) | 8Mbps tBIT(TXD) = 125ns 时 CAN 总线输出引脚上的位时间(2) | RL = 60Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
115 | 135 | ns | |
| tBIT(RXD)(1) | 2Mbps tBIT(TXD) = 500ns 时 CAN 总线输出引脚上的位时间 | 45Ω ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
470 | 520 | ns | |
| 5Mbps tBIT(TXD) = 200ns 时 CAN 总线输出引脚上的位时间 | 170 | 220 | ||||
| tBIT(RXD)(1) | 8Mbps tBIT(TXD) = 125ns 时 CAN 总线输出引脚上的位时间(2) | RL = 60Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
95 | 145 | ns | |
| ΔtREC(1) | 2Mbps tBIT(TXD) = 500ns 时的接收器时序对称性 | 45Ω ≤ RL ≤ 65Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
-20 | 15 | ns | |
| 5Mbps tBIT(TXD) = 200ns 时的接收器时序对称性 | -20 | 15 | ||||
| ΔtREC(1) | 8Mbps tBIT(TXD) = 125ns 时的接收器时序对称性(2) | RL = 60Ω，CL = 100pF，CL(RXD) = 15pF ΔtREC = tBIT(RXD) - tBIT(BUS) 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
-20 | 15 | ns | |
| 信号改善特性 | ||||||
| tPAS_REC_START | 被动隐性阶段的信号增强开始时间 | 从 TXD 上升沿（斜率 < 5ns，50% 阈值）开始测量，持续到信号改善阶段结束； RDIFF_PAS_REC ≥ MIN RDIFF_ACT_REC； RSE_CANH/L ≥ MIN RSE_SIC_REC 请参阅发送器和接收器时序行为测试电路和测量 |
530 | ns | ||
| tACT_REC_START | 主动信号改善阶段的开始时间 | 在 50% 阈值且斜率 < 5ns 时从 TXD 上升沿开始测量， | 120 | ns | ||
| tACT_REC_END | 主动信号改善阶段的结束时间 | 在 50% 阈值且斜率 < 5ns 时从 TXD 上升沿开始测量， | 355 | ns | ||
| SPI 开关特性 | ||||||
| fSCK | SCK，SPI 时钟频率 | 正常、待机、监听和失效防护模式 | 4 | MHz | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在 | 10 | kHz | ||||
| tSCK | SCK，SPI 时钟周期 | 正常、待机、监听和失效防护模式；请参阅SPI AC 特征读取 | 250 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；请参阅SPI AC 特征读取 | 1 | µs | ||||
| tRSCK | SCK 上升时间 | 请参阅 SPI AC 特征写入 | 40 | ns | ||
| tFSCK | SCK 下降时间 | 请参阅 SPI AC 特征写入 | 40 | ns | ||
| tSCKH | SCK，SPI 时钟高电平 | 正常、待机、监听和失效防护模式；请参阅SPI AC 特征读取 | 125 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；请参阅SPI AC 特征读取 | 500 | ns | ||||
| tSCKL | SCK，SPI 时钟低电平 | 正常、待机、监听和失效防护模式；请参阅SPI AC 特征读取 | 125 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在 | 500 | ns | ||||
| tCSS | 芯片选择建立时间 | 请参阅 SPI AC 特征写入 | 100 | ns | ||
| tCSH | 芯片选择保持时间 | 请参阅 SPI AC 特征写入 | 100 | ns | ||
| tCSD | 芯片选择禁用时间 | 请参阅 SPI AC 特征写入 | 50 | ns | ||
| tSISU | 数据输入建立时间 | 正常、待机、监听和失效防护模式；请参阅SPI AC 特征写入 | 50 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；请参阅SPI AC 特征写入 | 200 | ns | ||||
| tSIH | 数据输入保持时间 | 正常、待机、监听和失效防护模式；请参阅SPI AC 特征写入 | 50 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；请参阅SPI AC 特征写入 | 200 | ns | ||||
| tSOV | 数据输出有效 | 正常、待机、监听和失效防护模式；请参阅SPI AC 特征读取 | 80 | ns | ||
| 睡眠模式：如果 VIO 存在；请参阅SPI AC 特征读取 | 200 | ns | ||||
| tRSO | 数据输出上升时间 | 请参阅 SPI AC 特征读取 | 40 | ns | ||
| tFSO | 数据输出下降时间 | 请参阅 SPI AC 特征读取 | 40 | ns | ||