ZHCAG45 January   2026 LM63615-Q1 , LM63625-Q1 , LM63635-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3. 1 简介
  4. 2 反向电流的产生
  5. 3 EOS失效案例
  6. 4 原因可能性
  7. 5 EVM测试
  8. 6  反向电流的产生与失效过程
  9. 7 数据验证
  10. 8 设计建议
  11. 9 小结
  12. 10参考文献：

9 小结

LM636XX-Q1作为当前全球范围应用最广泛的一级BUCK产品之一，产品优异的性能和极高的性价比给汽车用户带来了良好的体验。同时，由于BUCK 拓扑本身带来的一些潜在风险，TI也做出了很多优化，持续更新优化，保证产品的可靠性。除此之外，本文以一个EOS的失效分析案例来深挖EOS背后的根因，推动了芯片的优化更新，适配更多的应用场景，增加了芯片的鲁棒性。