摘要

LM636XX-Q1被广泛应用于汽车座舱、ADAS及车身等汽车应用中。本应用手册主要帮助用户了解常见的应用中出现的EOS（Electrical Overstress，电气过应力）失效案例，如何通过每一步的分析找到芯片失效的根因，并且通过实验室验证以及量产的设计验证来闭环失效的分析结论，最终促使芯片来优化设计适配更多的应用场景，优化芯片设计，帮助用户设计出更加稳定的系统。