ZHCACH5B october   2022  – march 2023 OPA2991 , TLC2654 , TLC4502 , TLE2021 , TLV2721

 

  1.   摘要
  2.   商标
  3. 1引言
  4. 2定义的输入失调电压
  5. 3导致 VOS 的原因
  6. 4主要器件类型中的 VOS 和温漂
    1. 4.1 双极
    2. 4.2 JFET
    3. 4.3 CMOS
  7. 5VOS 的制造商测量、修整和规格
    1. 5.1 测量
    2. 5.2 修整
    3. 5.3 规格
  8. 6VOS 对电路设计和校正方法的影响
    1. 6.1 交流耦合
    2. 6.2 直流反馈
    3. 6.3 内部校准
  9. 7总结
  10. 8参考文献
  11. 9修订历史记录

5.1 测量

大多数参数使用伺服环路进行测量。图 5-1 显示了简化电路。该测试环路用于测量主要直流参数。在开关 S1 和 S2 闭合的情况下测量 VOS，由此可提供的源阻抗基本上很低，从而确保在测量过程中输入偏置电流失调可以忽略不计。运算放大器 A1 的反相输入通过包含 RF 和 50Ω 电阻器的反馈环路控制被测器件 (DUT) 的输出。当 S3 闭合时，A1 通过向正极端子施加必要的电压，将 DUT 的输出电压驱动为零。因此，50Ω 电阻器两端的电压等于 VOS，A1 的输出为 (RF/50)VOS。RF 根据 DUT 的预期失调电压进行调整，以便 A1 的输出不会饱和，但又容易辨别。

GUID-20220329-SS0I-VCGZ-1PSQ-QPLQBJK0VQLJ-low.svg图 5-1 简化伺服环路测试电路