顾名思义，输入失调电压是指运算放大器输入。所有的误差源都是如此，因为从误差源可以看出，任何误差源产生的实际输出都取决于电路的闭环增益 (A_CL)。因此，V_OS 必须与同相电路的 A_CL（以输出为基准）相乘。

表 5-1 显示了 OPA2991 数据表的 V_OS 部分。每个 V_OS 规格在数据表上都有一列用于列出最小值、典型值和最大值。对于运算放大器，可提供三种主要的 V_OS 规格：25°C 时的 V_OS、满量程 V_OS 和温漂 (ΔV_OS/ΔT)。过去，器件在特定的工作温度范围内需要使用字母标识符，如表 5-2 所示。然而，大多数新器件的温度范围均为 –40°C 至 +125°C，与应用无关。某些器件还标有 A 或 B 等字母。此类等级表示器件的精度，质量（等级）越高，直流误差则越低。但情况并非总是如此，因此请务必查看数据表以便了解实际的 V_OS 规格。

第一个条目是针对静态温度条件下的 V_OS，其中列出了 25°C 温度下的最大值和典型值。几乎所有运算放大器数据表都列出了该规格，并以毫伏 (mV) 或微伏 (μV) 表示。用于创建器件工艺中的自然变化或未来变化有可能导致 V_OS 与典型值大相径庭。每款器件在出厂时都经过测试，以确保在发货给客户之前不超过最大指定值，因此稳健的设计可能要求设计人员关注最大值而不是典型值。

在数据表中，满量程 V_OS 通常仅提供最大额定值。该规格列出了在额定温度范围内可能遇到的最差 V_OS。有时，满量程额定温度范围小于最大工作温度范围，因此必须严格注意这些条件。

器件的温漂由 ΔV_OS/ΔT 表示。这是使用方程式 13 中所示的额定温度范围的两端计算的平均值。例如，许多器件的 V_OS 是在–40°C (T_A1) 和 +125°C (T_A2) 条件下测得的，计算其结果并表示为每摄氏度温度变化时 V_OS 增加的微伏数 (μV/°C)。温漂通常作为数据表中的典型值给出。请注意，TI 仅对最大值进行了生产测试，因此请查看满量程数据或测量温漂，以便更全面地了解器件的温漂。

一些器件的温漂图中有多个斜率，因此使用了方程式 14。当不同区域存在不同的斜率时，这很有用，因为在整个范围内进行计算只会显示较小的温漂，而可能会有较大的温漂来抵消。

图 5-2 显示了在 –40°C 至 +125°C（典型温度范围）内测得的 V_OS（针对多个器件），并比较了 V_OS 温漂特性。每条线的斜率表示该部分的温漂幅度或称 ΔV_OS/ΔT。直线越陡，ΔV_OS/ΔT 就越大。与 LM358B 相比，OPA2991 的温漂更小。如果应用中预计会出现温度变化，设计人员应考虑满量程温漂特性。

图 5-3 和图 5-4 是使用 TLV9161、OPAx991 和 TLV07xH 时，V_OS 与输入共模电压 (V_CM) 间关系的示例。由于 V_OS 通常在 V_CM 设为一个值的条件下进行测试，因此此类图表可用于推断数据表中未指定的特性。这样，设计人员能够了解器件在各种值下的特性。