这里必须谨慎使用校准一词，因为从技术上说存在三个校准选项来对 TMCS110x 执行校准：一个一次性布局灵敏度校准，然后是一个“最多两步”流程：单点失调器件校准，以及器件级灵敏度校准（如果需要超过单点校准例程的额外精度）。请注意，这些选项中的后者是特定于器件的，需要在固件中编程设置唯一的值，因此在需要可扩展性的应用中增加了复杂性。

上文提到的第一个校准选项基于布局以及电流输入 TMCS110x 器件的进入角度。 导通路径中讨论了此处需要考虑的其中一个误差示例。电流进入角以及其他潜在的因素可能会因为其接近 TMCS110x 以及对该器件造成的影响而导致灵敏度发生变化。为了执行此校准，需要向 TMCS110x 施加两个已知的电流并测量相应的输出。从这些点来看，可以通过点斜式计算出器件的灵敏度，即灵敏度的计算方式为 ΔV_OUT/ΔI_IN。一旦确定了此斜率，该斜率会保留在逻辑器件中，然后可以在逻辑中通过此系数修正输出的数据，以代替数据表中的理想器件值。一旦对布局进行了这种校准，器件间的预期偏差受数据表中的最大灵敏度误差的限制。

为了进一步提高精度，另一个校准步骤就是消除系统中可能存在的直流失调。一旦器件就绪，通常就会执行这一步骤（对应用而言，而不是布局），并且保持不变，因为当朝向改变时，地球的磁场或任何其他直流电场可能会发生改变。通过将输入置于零电流条件并测量相应输出来执行此校准。在理想检测电路中，此条件下的输出电压就是器件的基准电压。此预期理想输出与实际测量的输出之间的偏差就是所讨论的直流失调。每个器件的预期输出如“TMCS1101 数据表：线性工作区域”中所示，并会在逻辑器件中更正为此测量值。请注意，如前所述，此类校准是特定于器件和 朝向的，并应该在电路板位于预期使用位置时针对每个器件执行。

如果第一次校准没能提供足够的误差校正，而需要额外的精度，则可以使用最后一个校准选项。此校准只是重复了电路板级校准，但是针对每个特定设备执行，而不是布局本身的压制系数。这消除了器件间的灵敏度差异，并去除了在给定工作点处的灵敏度。请注意，未考虑到的外部磁场或温漂等外部因素可能仍会在此引入额外的误差。