ZHCSZ00A May 2024 – September 2025 DRV8000-Q1
PRODUCTION DATA
栅极驱动电流强度 IDRIVE 的选择依据包括:外部 MOSFET 的栅漏电荷,以及开关节点的目标上升和下降时间。对于给定的 MOSFET,如果选择的 IDRIVE 过低,则 MOSFET 可能无法在配置的 tDRIVE 时间内完全导通或关断,并且可以断定出现栅极故障。此外,较长的上升和下降时间会导致外部功率 MOSFET 中出现更高的开关功率损耗。TI 建议使用所需的外部 MOSFET 和负载在系统中验证这些值,以确定设计的设置。
高侧和低侧外部 MOSFET 的 IDRIVEP 和 IDRIVEN 均可在寄存器 GD_IDRV_CNFG 中配置。
对于具有已知栅漏电荷 QGD、所需上升时间 (trise) 和所需下降时间 (tfall) 的 MOSFET,可使用方程式 4 和方程式 5 分别计算 IDRIVEP 和 IDRIVEN 的近似值。
以输入设计参数为例,我们可以计算 IDRIVEP 和 IDRIVEN 的近似值。
根据这些计算结果,为 IDRIVEP 选择了值 6 mA。
根据这些计算结果,为 IDRIVEN 选择了值 16mA。