ZHCSP09C December   2023  – March 2025 ADS9227 , ADS9228 , ADS9229

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较表
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1  绝对最大额定值
    2. 6.2  ESD 等级
    3. 6.3  热性能信息
    4. 6.4  建议运行条件
    5. 6.5  电气特性
    6. 6.6  时序要求
    7. 6.7  开关特性
    8. 6.8  时序图
    9. 6.9  典型特性：所有器件
    10. 6.10 典型特性：ADS9229
    11. 6.11 典型特性：ADS9228
    12. 6.12 典型特性：ADS9227
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1  模拟输入
      2. 7.3.2  模拟输入带宽
      3. 7.3.3  ADC 传递函数
      4. 7.3.4  参考
        1. 7.3.4.1 内部基准电压
        2. 7.3.4.2 外部基准电压
      5. 7.3.5  温度传感器
      6. 7.3.6  数据平均
      7. 7.3.7  数字下变频器
      8. 7.3.8  数据接口
        1. 7.3.8.1 数据帧宽度
        2. 7.3.8.2 ADC 输出数据随机数发生器
        3. 7.3.8.3 同步多个 ADC
      9. 7.3.9  数据接口测试图形
        1. 7.3.9.1 固定图形
        2. 7.3.9.2 数字斜坡
        3. 7.3.9.3 交替测试图形
      10. 7.3.10 ADC 采样时钟输入
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 复位
      2. 7.4.2 断电选项
      3. 7.4.3 正常运行
      4. 7.4.4 初始化序列
    5. 7.5 编程
      1. 7.5.1 寄存器写入
      2. 7.5.2 寄存器读取
      3. 7.5.3 多个器件：SPI 配置的菊花链拓扑
        1. 7.5.3.1 菊花链中的寄存器写入
        2. 7.5.3.2 菊花链中的寄存器读取
  9. 8 寄存器映射
    1. 8.1 寄存器组 0
    2. 8.2 寄存器组 1
    3. 8.3 寄存器组 2
  10. 9 应用和实施
    1. 9.1 应用信息
    2. 9.2 典型应用
      1. 9.2.1 ≤20kHz 输入信号带宽的数据采集 (DAQ) 电路
        1. 9.2.1.1 设计要求
        2. 9.2.1.2 详细设计过程
        3. 9.2.1.3 应用曲线
      2. 9.2.2 ≤100kHz 输入信号带宽的数据采集 (DAQ) 电路
        1. 9.2.2.1 设计要求
        2. 9.2.2.2 应用曲线
      3. 9.2.3 ≤1MHz 输入信号带宽的数据采集 (DAQ) 电路
        1. 9.2.3.1 设计要求
        2. 9.2.3.2 应用曲线
    3. 9.3 电源相关建议
    4. 9.4 布局
      1. 9.4.1 布局指南
      2. 9.4.2 布局示例
  11. 10器件和文档支持
    1. 10.1 文档支持
      1. 10.1.1 相关文档
    2. 10.2 接收文档更新通知
    3. 10.3 支持资源
    4. 10.4 商标
    5. 10.5 静电放电警告
    6. 10.6 术语表
  12. 11修订历史记录
  13. 12机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

7.3.9 数据接口测试图形

ADS922x 具有主机用于调试和验证数据接口的测试图形（图 7-10）。测试图形使用预定义的数字数据替换 ADC 输出数据。通过配置组 1 中相应的寄存器地址 0x13 至 0x1B 来启用测试图形。

表 7-10 列出了 ADS922x 支持的测试图形。

ADS9227 ADS9228 ADS9229 用于测试图形的寄存器组图 7-10 用于测试图形的寄存器组
表 7-10 测试图形配置
ADC 输出 TP_EN_CHA
TP_EN_CHB		 TP_MODE_CHA
TP_MODE_CHB		 章节 结果1
ADC 转换结果 0 — — —
固定图形 1 0 或 1 固定图形 ADC A = TP0_A
ADC B = TP0_B
数字斜坡 1 2 数字斜坡 ADC A = 数字斜坡
ADC B = 数字斜坡
交替测试图形 1 3 交替测试图形 ADC A = TP0_A，TP1_A
ADC B = TP0_B，TP1_B
注：
  1. 为两个单独的通道组 ADC A 和 ADC B 配置测试图形。