ZHCSVD0K June 2005 – March 2024 DS40MB200
PRODUCTION DATA
引脚 | I/O(1) | 说明(2) | |
---|---|---|---|
名称 | 编号 | ||
线路侧高速差分 I/O | |||
LI_0+ LI_0− |
6 7 |
I | 线路侧端口 0 的反相和同相差分输入。LI_0+ 和 LI_0− 具有一个连接到内部基准电压的内部 50Ω 电阻器。请参阅图 7-1。 |
LI_1+ LI_1− |
30 31 |
I | 线路侧端口 1 的反相和同相差分输入。LI_1+ 和 LI_1− 具有一个连接到内部基准电压的内部 50Ω 电阻器。请参阅图 7-1。 |
LO_0+ LO_0− |
33 34 |
O | 线路侧端口 0 的反相和同相差分输出。LO_0+ 和 LO_0− 具有一个连接到 VCC 的内部 50Ω 电阻器。 |
LO_1+ LO_1− |
9 10 |
O | 线路侧端口 1 的反相和同相差分输出。LO_1+ 和 LO_1− 具有一个连接到 VCC 的内部 50Ω 电阻器。 |
开关侧高速差分 I/O | |||
SIA_0+ SIA_0− |
40 39 |
I | 开关 A 侧多路复用器 0 的反相和同相差分输入。SIA_0+ 和 SIA_0− 具有一个连接到内部基准电压的内部 50Ω 电阻器。请参阅图 7-1。 |
SIA_1+ SIA_1− |
16 15 |
I | 开关 A 侧多路复用器 1 的反相和同相差分输入。SIA_1+ 和 SIA_1− 具有一个连接到内部基准电压的内部 50Ω 电阻器。请参阅图 7-1。 |
SIB_0+ SIB_0− |
43 42 |
I | 开关 B 侧多路复用器 0 的反相和同相差分输入。SIB_0+ 和 SIB_0− 具有一个连接到内部基准电压的内部 50Ω 电阻器。请参阅图 7-1。 |
SIB_1+ SIB_1− |
19 18 |
I | 开关 B 侧多路复用器 1 的反相和同相差分输入。SIB_1+ 和 SIB_1− 具有一个连接到内部基准电压的内部 50Ω 电阻器。请参阅图 7-1。 |
SOA_0+ SOA_0− |
46 45 |
O | 开关 A 侧多路复用器 0 的反相和同相差分输出。SOA_0+ 和 SOA_0− 具有一个连接到 VCC 的内部 50Ω 电阻器。 |
SOA_1+ SOA_1− |
22 21 |
O | 开关 A 侧多路复用器 1 的反相和同相差分输出。SOA_1+ 和 SOA_1− 具有一个连接到 VCC 的内部 50Ω 电阻器。 |
SOB_0+ SOB_0− |
4 3 |
O | 开关 B 侧多路复用器 0 的反相和同相差分输出。SOB_0+ 和 SOB_0− 具有一个连接到 VCC 的内部 50Ω 电阻器。 |
SOB_1+ SOB_1− |
28 27 |
O | 开关 B 侧多路复用器 1 的反相和同相差分输出。SOB_1+ 和 SOB_1− 具有一个连接到 VCC 的内部 50Ω 电阻器。 |
控制(3.3V LVCMOS) | |||
LB0A | 47 | I | LB0A 处的逻辑低电平启用从 SIA_0± 到 SOA_0± 的内部环回路径。LB0A 在内部被上拉。 |
LB0B | 48 | I | LB0B 处的逻辑低电平启用从 SIB_0± 到 SOB_0± 的内部环回路径。LB0B 在内部被上拉。 |
LB1A | 23 | I | LB1A 处的逻辑低电平启用从 SIA_1± 到 SOA_1± 的内部环回路径。LB1A 在内部被上拉。 |
LB1B | 24 | I | LB1B 处的逻辑低电平启用从 SIB_1± 到 SOB_1± 的内部环回路径。LB1B 在内部被上拉。 |
MUX_S0 | 37 | I | MUX_S0 处的逻辑低电平选择多路复用器 0 为开关 B。MUX_S0 在内部被上拉。多路复用器 0 的默认状态为开关 A。 |
MUX_S1 | 13 | I | MUX_S1 处的逻辑低电平选择多路复用器 1 为开关 B。MUX_S1 在内部被上拉。多路复用器 1 的默认状态为开关 A。 |
PREL_0 PREL_1 |
12 1 |
I | PREL_0 和 PREL_1 选择线路侧驱动器(LO_0± 和 LO_1±)的输出预加重。PREL_0 和 PREL_1 在内部被上拉。有关线路侧预加重电平,请参阅表 7-3。 |
PRES_0 PRES_1 |
36 25 |
I | PRES_0 和 PRES_1 选择开关侧驱动器(SOA_0±、SOB_0±、SOA_1± 和 SOB_1±)的输出预加重。PRES_0 和 PRES_1 在内部被上拉。有关开关侧预加重电平,请参阅表 7-4。 |
RSV | 26 | I | 保留引脚以支持工厂测试。该引脚可以保持开路,连接到 GND,或者通过外部下拉电阻器连接到 GND。 |
电源 | |||
GND | 5、11、17、32、41 | P | 参考接地。每个接地引脚都必须通过低电感路径连接到接地平面,通常使用尽可能靠近 GND 引脚着陆焊盘的过孔。 |
GND | DAP | P | 裸片连接焊盘 (DAP) 是底部的金属触点,位于 WQFN-48 封装的中心。该焊盘必须至少通过 4 个过孔连接到 GND 平面,以降低接地阻抗并提高封装的热性能。 |
VCC | 2、8、14、20、29、35、38、44 | P | VCC = 3.3V ± 5%。 每个 VCC 引脚都必须通过低电感路径连接到 VCC 平面,通常使用尽可能靠近 VCC 引脚着陆焊盘的过孔。 TI 建议在每个 VCC 引脚与接地平面之间放置一个 0.01μF 或 0.1μF、X7R、0402 尺寸旁路电容器。 |