ZHDA265 August   2026 BQ76952 , BQ78706

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2电芯开路检测流程
    1. 2.1 VC1-VCn-1 开路检测
    2. 2.2 VCn 开路检测
    3. 2.3 VC0 开路检测
  6. 3分流电阻开路检测
    1. 3.1 分流电阻的开路检测解决方案
    2. 3.2 带冗余 ADC 的电流检测诊断
  7. 4其他诊断:VBAT、VSS
    1. 4.1 VBAT 开路检测
    2. 4.2 VSS 开路检测
  8. 5总结
  9. 6参考资料

分流电阻的开路检测解决方案

 分流电阻的开路检测解决方案图 3-1 分流电阻的开路检测解决方案

如图 3-1所示,本文通过在串联滤波电阻和 MCU GPIO 引脚之间添加电阻分压器来提出一种低成本诊断电路。在正常工作期间,MCU 引脚保持高阻抗状态 (Hi-Z),因此电路不会引入额外的静态功耗。

在诊断操作期间,MCU 会将 GPIO 引脚驱动为高电平。这会将 SRN/SRP 引脚拉至足够高的电平,以便为 AFE 的内部 ADC 生成明显可测量的信号。通过读取 AFE 电流测量值,MCU 可以确定 SRP 和 SRN 引脚是短接在一起还是短接至 VSS。如果滤波电阻器和电流检测线未开路,AFE 报告的电流值应与根据电阻分压器网络计算出的预期值相匹配。如果滤波电阻器或电流检测线断开,则施加到电流检测输入的电压主要由 MCU 上拉电压决定,该电压可以直接触发 SCD 保护。

注: 在设计该电路时,请确保施加到 AFE 电流检测输入引脚 SRP 和 SRN 上的电压不超过这些引脚的绝对最大额定值。否则,MCU 上拉电压可能会损坏 AFE。