ZHCZ029D July   2023  – April 2025 TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   TMS320F28P65x MCU 器件勘误表器件修订版本 A、0
  3. 1使用说明和公告模型
    1. 1.1 使用说明汇总表
    2. 1.2 公告汇总表
  4. 2命名规则、封装编号法和修订版本标识
    1. 2.1 器件和开发支持工具命名规则
    2. 2.2 支持的器件
    3. 2.3 封装编号法和修订版本标识
  5. 3器件修订版本 A 使用说明和公告
    1. 3.1 器修订版本 A 使用说明
      1. 3.1.1 PIE：背对背 PIEACK 写入和手动 CPU 中断屏蔽清除之后的伪波嵌套中断
      2. 3.1.2 将嵌套中断与重复块一起使用时的注意事项
      3. 3.1.3 GPIO：GPIO 数据寄存器仅通过 CPU1 复位进行复位
      4. 3.1.4 安全性：主要的防御层是构建芯片安全边界，从启用 JTAGLOCK 和零引脚引导至闪存功能开始
    2. 3.2 器件修订版本 A 公告
      1.      公告
      2.      公告
      3.      公告
      4. 3.2.1 公告
      5.      公告
      6. 3.2.2 公告
      7. 3.2.3 公告
      8. 3.2.4 公告
      9.      公告
      10.      公告
      11.      公告
      12.      公告
      13.      公告
      14. 3.2.5 公告
      15.      公告
      16.      公告
      17.      公告
      18.      公告
  6. 4器件修订版本 0 使用说明和公告
    1. 4.1 器件修订版本 0 使用说明
    2. 4.2 器件修订版本 0 公告
      1. 4.2.1 公告
  7. 5文档支持
  8. 6商标
  9. 7修订历史记录

公告

ePWM：如果跳闸在消隐窗口结束时保持活动状态，则可能会发生 ePWM 干扰

受影响版本

0、A

详细信息

消隐窗口通常用于屏蔽转换期间将导致系统误跳闸的任何 PWM 跳闸事件。如果在消隐窗口周期结束后，ePWM 跳闸事件在少于三个 ePWM 时钟内保持活动状态，则 ePWM 输出上可能会存在不良干扰脉冲。

图 3-2 展示了可能会导致不良 ePWM 输出的时间段。

TMS320F28P650DK TMS320F28P650DH TMS320F28P650SK TMS320F28P650SH TMS320F28P659DK-Q1 TMS320F28P659DH-Q1 TMS320F28P659SH-Q1 不良跳闸事件和消隐窗口过期图 3-2 不良跳闸事件和消隐窗口过期

图 3-3 展示了如果跳闸事件在消隐窗口关闭之前的 1 个周期或关闭之后的 3 个周期内结束，可能出现的两个 ePWM 输出。

TMS320F28P650DK TMS320F28P650DH TMS320F28P650SK TMS320F28P650SH TMS320F28P659DK-Q1 TMS320F28P659DH-Q1 TMS320F28P659SH-Q1 可能会产生不良的 ePWM 输出图 3-3 可能会产生不良的 ePWM 输出

权变措施

扩展或减小消隐窗口，以避免任何不良的跳闸操作。