4 低压测试程序示例

1.在继续执行加电测试程序之前，请确保执行低压工作台设置以设置所有设备。

2.确保 TMDSCNCD280039C controlCARD 开关设置如图 4-1 所示。

3.启用所有电源。

4.打开 Uniflash（链接）将固件上传到 TMDSCNCD280039C MCU controlCARD。将 TMDSCNCD280039C controlCARD 连接到计算机后，您应该会看到所检测到的器件 F28003x controlCARD。点击“Start”。

5.在新页面中，浏览并选择软件部分中讨论的固件文件“f28003x_ucc5880.out”。确保选中“Run Target After Program Load/Flash Operation”，然后点击“Load Image”。几秒钟后，应该会出现一条消息“[SUCCESS] Program Load completed successfully”。TMDSCNCD280039C controlCARD 上的 LED D1 应该开始闪烁。

6.启动 UCC5880QEVM-057 GUI。将弹出的第一页是一个窗口，其中显示了正在编程的通信模式和栅极驱动器。请勿更改默认值并选择“Finish”（从默认的 LS 栅极驱动器开始）。

7.GUI 将自动检测 MCU 子卡和 UCC5880QEVM-057，并转换到“Active State”窗口。如果 GUI 仍在“Reset State”窗口中，并且 GUI 底部的横幅显示“Hardware Not Connected”，请点击相应图标转至主页。

8.主页有两个指示器。一个指示 GUI 是否能够与 C2000 MCU 控制卡建立通信，另一个指示 GUI 是否能够与栅极驱动器建立通信。如果 MCU 显示已连接且器件显示未连接，则问题将出在 UCC5880Q1EVM-057 中。确保跳线设置为正确的 SPI 通信模式，然后重试。当您将鼠标悬停在每个指示器旁边的信息符号上时，将显示进一步的调试步骤。如果 MCU 和器件均显示未连接，请更改 GUI 中的端口设置。点击 GUI 顶部横幅上的“Options->Serial Port”，然后从可用串行端口选项中选择相应的串行端口。

9.选择合适的端口后，GUI 将自动检测 MCU 子卡和 UCC5880Q1EVM_057。点击“Basic configuration”图标转换至“Active State”窗口。

10.确保“Active state window”中不存在故障。可以通过查看屏幕右下角的警告和故障状态指示器来检查这一点。无故障意味着两个指示器均关闭。指示器亮起表示存在故障。GUI 会在弹出选项卡中通知触发了哪个故障，选择“Warning”指示器旁边的展开箭头后，系统即会显示该选项卡。点击“Clear Fault”可清除存在的故障。

11.对于此测试，必须禁用 DESAT 保护，因为 EVM 未连接到 SiC FET 或 IGBT。要转至驱动程序配置窗口，请点击“Configuration State”。

12. 进入“Configuration State”窗口后，转至“SCP/OCP/DESAT”选项卡，向下滚动至“SC Fault”并选择“Disabled”。点击“Confirm”->“Proceed”以锁定配置。GUI 将自动切换回“Active State”窗口。

13.在“Active State”窗口中，选择 10kHz PWM 频率和 50% PWM 占空比。点击“Start PWM”开始切换。

14.示波器应显示栅极驱动器输入和 PWM 输入，如图 4-12 所示。

15.要将通信切换到高侧驱动器，请点击“Active State”窗口顶部的蓝色横幅。

16.在栅极驱动器之间切换时，GUI 将自动读取所有栅极驱动器寄存器以确保 GUI 显示正确的信息。有一个额外的选项可以重新读取所有寄存器，这可以通过转至“Registers”页面并点击“Read All Registers”来完成。

17.GUI 还包含一个“Test Functions”选项卡，该选项卡可配置用于双脉冲测试 (DPT) 和短路测试 (SCT) 的栅极驱动器输入信号。