ZHCSPP4B June   2022  – February 2025 ADC12QJ1600-SP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特性
  3. 应用
  4. 说明
  5. 引脚配置和功能
  6. 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性:直流规格
    6. 5.6  电气特性:功耗
    7. 5.7  电气特性:AC 规范
    8. 5.8  开关特性
    9. 5.9  时序要求
    10. 5.10 典型特性
  7. 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 模拟输入
        1. 6.3.1.1 模拟输入保护
        2. 6.3.1.2 满量程电压 (VFS) 调整
        3. 6.3.1.3 模拟输入失调电压调整
        4. 6.3.1.4 ADC 内核
          1. 6.3.1.4.1 ADC 工作原理
          2. 6.3.1.4.2 ADC 内核校准
          3. 6.3.1.4.3 模拟基准电压
          4. 6.3.1.4.4 ADC 超范围检测
          5. 6.3.1.4.5 误码率 (CER)
      2. 6.3.2 温度监测二极管
      3. 6.3.3 时间戳
      4. 6.3.4 时钟
        1. 6.3.4.1 转换器 PLL (C-PLL),用于采样时钟生成
        2. 6.3.4.2 LVDS 时钟输出(PLLREFO±、TRIGOUT±)
        3. 6.3.4.3 可选 CMOS 时钟输出(ORC、ORD)
        4. 6.3.4.4 用于 JESD204C 子类 1 确定性延迟的 SYSREF
          1. 6.3.4.4.1 用于多器件同步和确定性延迟的 SYSREF 采集
          2. 6.3.4.4.2 SYSREF 位置检测器和采样位置选择(SYSREF 窗口)
      5. 6.3.5 JESD204C 接口
        1. 6.3.5.1  传输层
        2. 6.3.5.2  扰频器
        3. 6.3.5.3  链路层
        4. 6.3.5.4  8B 或 10B 链路层
          1. 6.3.5.4.1 数据编码(8B 或 10B)
          2. 6.3.5.4.2 多帧和本地多帧时钟 (LMFC)
          3. 6.3.5.4.3 代码组同步 (CGS)
          4. 6.3.5.4.4 初始通道对齐序列 (ILAS)
          5. 6.3.5.4.5 帧和多帧监控
        5. 6.3.5.5  64B 或 66B 链路层
          1. 6.3.5.5.1 64B 或 66B 编码
          2. 6.3.5.5.2 多块、扩展多块和本地扩展多块时钟 (LEMC)
            1. 6.3.5.5.2.1 使用同步报头的模块、多块和扩展多块对齐
              1. 6.3.5.5.2.1.1 循环冗余校验 (CRC) 模式
              2. 6.3.5.5.2.1.2 正向纠错 (FEC) 模式
          3. 6.3.5.5.3 初始通道对齐
          4. 6.3.5.5.4 模块、多块和扩展多块对齐监控
        6. 6.3.5.6  物理层
          1. 6.3.5.6.1 串行器/解串器预加重功能
        7. 6.3.5.7  JESD204C 启用
        8. 6.3.5.8  多器件同步和确定性延迟
        9. 6.3.5.9  在子类 0 系统中运行
        10. 6.3.5.10 报警监控
          1. 6.3.5.10.1 时钟翻转检测
          2. 6.3.5.10.2 FIFO 翻转检测
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 低功耗模式和高性能模式
      2. 6.4.2 JESD204C 模式
        1. 6.4.2.1 JESD204C 传输层数据格式
        2. 6.4.2.2 64B 或 66B 同步标头流配置
        3. 6.4.2.3 冗余数据模式(备选信道)
      3. 6.4.3 断电模式
      4. 6.4.4 测试模式
        1. 6.4.4.1 串行器测试模式详细信息
        2. 6.4.4.2 PRBS 测试模式
        3. 6.4.4.3 时钟图形模式
        4. 6.4.4.4 斜坡测试模式
        5. 6.4.4.5 近程和远程传输测试模式
          1. 6.4.4.5.1 近程传输测试模式
        6. 6.4.4.6 D21.5 测试模式
        7. 6.4.4.7 K28.5 测试模式
        8. 6.4.4.8 重复 ILA 测试模式
        9. 6.4.4.9 修改的 RPAT 测试模式
      5. 6.4.5 校准模式和修整
        1. 6.4.5.1 前台校准模式
        2. 6.4.5.2 后台校准模式
        3. 6.4.5.3 低功耗后台校准 (LPBG) 模式
      6. 6.4.6 偏移校准
      7. 6.4.7 修整
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 使用串行接口
      2. 6.5.2 SCS
      3. 6.5.3 SCLK
      4. 6.5.4 SDI
      5. 6.5.5 SDO
      6. 6.5.6 流模式
      7. 6.5.7 SPI_Register_Map 寄存器
  8. 应用和实施
    1. 7.1 应用信息
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 激光雷达 (LiDAR) 数字转换器
        1. 7.2.1.1 设计要求
        2. 7.2.1.2 详细设计过程
          1. 7.2.1.2.1 模拟前端要求
          2. 7.2.1.2.2 计算时钟和串行器/解串器频率
        3. 7.2.1.3 应用曲线
    3. 7.3 初始化设置
    4. 7.4 电源相关建议
      1. 7.4.1 电源时序
    5. 7.5 布局
      1. 7.5.1 布局指南
      2. 7.5.2 布局示例
  9. 器件和文档支持
    1. 8.1 器件支持
    2. 8.2 接收文档更新通知
    3. 8.3 支持资源
    4. 8.4 商标
    5. 8.5 静电放电警告
    6. 8.6 术语表
  10. 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

转换器 PLL (C-PLL),用于采样时钟生成

配有集成 VCO 的内部 PLL 称为转换器 PLL (C-PLL),可用于从低频基准信号生成高速采样时钟,以简化系统时钟架构,并避免高速时钟在电路板周围布线。图 6-4展示了 C-PLL 架构。通过将 PLL_EN 引脚设置为高电平来启用 PLL。

ADC12QJ1600-SP 转换器 PLL (C-PLL) 架构图 6-4 转换器 PLL (C-PLL) 架构

如果将 PLLREF_SE 引脚设置为低电平,则 PLL 从 CLK± 引脚获取低频基准时钟;如果将 PLLREF_SE 引脚设置为高电平,则 PLL 从 SE_CLK 引脚获取低频基准时钟。基准时钟直接应用于相位频率检测器 (PFD)。PFD 将基准时钟相位与从 VCO 分频的时钟相位进行比较。因此, VCO 频率 (fVCO) 除以路径中的所有分频器 (V、P、N ) 必须等于基准时钟频率 (fREF)。然后,采样频率 (fS) 等于基准频率乘以 N 分频器之积或 VCO 频率除以 V 和 P 分频器之商。方程式 2方程式 3 指定了控制 PLL 运行的公式。

方程式 2. fS = fVCO ÷ (V × P)

其中

  • fS 是 ADC 内核采样率
  • fVCO 是 VCO 频率
  • V 是 VCO 分频器
  • P 是 VCO 预分频器
方程式 3. fREF × N = fS

其中

  • fREF 是 PLL 基准频率
  • N 是 PLL 反馈分频器

方程式 4 可用于计算 V 和 P 分频器的乘积 (V×P)。只需选择 V 和 P,使它们的乘积等于所计算出的乘积。方程式 5 可用于根据所需的采样率和基准频率计算 N 分频器。

方程式 4. V × P = fVCO ÷ fS
方程式 5. N = fS ÷ fREF

器件中的 VCO 调谐范围有限,这限制了 PLL 可生成的 ADC 采样率。表 6-3 中提供了可用的 VCO 分频值(P 和 V 的乘积)和生成的采样率。当启用 PLL 时,器件只有 表 6-3 中的采样率可用。如果 PLL 不支持所需的采样率,则必须禁用 PLL,并向 CLK± 引脚提供所需的采样时钟。

表 6-3 可用的 VCO 分频值和可实现的 ADC 采样率
VCO 分频值 (P×V)最小 ADC 内核采样率最大 ADC 内核采样率
51440 MSPS1600 MSPS
61200 MSPS1367 MSPS
8900 MSPS1025 MSPS
10720 MSPS820 MSPS
12600 MSPS683 MSPS
16500 MSPS513 MSPS

在更改任何 C-PLL 设置之前,将寄存器 CPLL_RESET 设置为 1(地址= 0x5C CPLL_RESET),C-PLL 应保持在复位状态。C-PLL 分频器可以使用寄存器 PLL_P_DIV(地址= 0x3D PLL_P_DIV)、PLL_V_DIV(地址= 0x03D PLL_V_DIV)和 PLL_N_DIV(地址= 0x3E PLL_N_DIV)进行编程。对分频器进行编程后,应首先将寄存器 VCO_CAL_EN 设置为 1(地址= 0x5D VCO_CAL_EN)来运行 VCO 校准。将寄存器 CPLL_RESET(地址= 0x5C CPLL_RESET)设置为 0 使 C-PLL 退出复位时,将运行 VCO 校准。当寄存器 VCO_CAL_DONE(地址= 0x5E VCO_CAL_DONE)返回 1 且寄存器 CPLL_LOCKED(地址= 0x208 CPLL_LOCKED)为 1 时,校准完成且 C-PLL 被锁定。

C-PLL 包括 VA11Q 和 VCLK11 的噪声抑制选项,可减少采样抖动和基准时钟输入杂散,但代价是每个选项的电流大概为 20mA。控制位位于 CLK_CTRL2 寄存器(地址= 0x2B CLK_CTRL2)中。