ZHCAG79 August   2026 TPS650362-Q1 , TPS65219-Q1 , TPS65224-Q1

 

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  2.   摘要
  3. 1引言
  4. 2输入电压缓升缓降测试导致PMIC无法恢复工作的原因
    1. 2.1 PMIC的两种输入欠压保护机制 (UVLO)
    2. 2.2 多次触发PVIN_B1_UVLO会导致PMIC进入WT_PWR_REC 状态
    3. 2.3 输入电压缓升缓降导致PMIC进入WT_PWR_REC状态的原因
  5. 3宽电压输入类的PMIC常见解决方案
    1. 3.1 增大PVIN_B1_UVLO Rising 和Falling 之间的差值
    2. 3.2 用理想二极管代替防反接二极管
    3. 3.3 TPS650362-Q1可以使用Resistive discharge 替代Active discharge放电
  6. 4低压输入类PMIC的常见解决方案
    1. 4.1 调节一级BUCK环路稳定性
    2. 4.2 避免一级BUCK在缓升缓降测试中处于Dropout状态
  7. 5非功能安全系统可以关闭/屏蔽RECOV_CNT_THR来避免进入SAFE/OFF状态
  8. 6参考文献

3.3 TPS650362-Q1可以使用Resistive discharge 替代Active discharge放电

TPS650362-Q1的BUCK1输出提供两种放电形式: Resistive discharge 或 Active discharge，使用寄存器BUCK1_CTRL Register (0x18) 进行选择 。使用Active discharge时，BUCK1会通过控制内部低边MOSFET Switching来控制放电的Slew Rate。那么这个时候输出电感和BUCK1的内部功率MOSFET会构成一个对PVIN_B1_VIN输出的反向boost。

如果PVIN_B1_VIN缺少放电路径，VIN会在电压缓降测试中出现电压的意外抬升，导致PMIC进入反复触发UVLO的状态。

反向Boost 拓扑 图 3-4 反向Boost 拓扑
Active discharge导致输入电压抬升 图 3-5 Active discharge导致输入电压抬升
Resistive discharge的输入电压不再抬升 图 3-6 Resistive discharge的输入电压不再抬升