ZHCADG8 December   2023 BQ27426 , BQ27427 , BQ27Z561 , BQ27Z746 , BQ28Z610 , BQ34Z100 , BQ40Z50 , BQ40Z80

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2电压相关性
  6. 3电压 + IR 校正
  7. 4以库仑为单位计
  8. 5CEDV
  9. 6Impedance Track
  10. 7算法比较
    1. 7.1 计算 SOC 误差
      1. 7.1.1 计算真实 SOC
      2. 7.1.2 求出电压相关性和电压 + IR 校正计算出的 SOC
      3. 7.1.3 求出库仑计数计算出的 SOC
    2. 7.2 比较 SOC 误差
  11. 8总结
  12. 9参考资料

3 电压 + IR 校正

电压 + IR 校正通过考虑对电池施加负载时发生的 IR 压降来对电压相关性进行扩展研究。IR 压降的大小取决于电池的内部阻抗、负载电流量和电池的温度。

GUID-C92E045F-91DB-44BC-80FB-395063BA158B-low.png图 3-1 电压 + IR 压降图

电压 + IR 校正的缺点是，由于内部阻抗增加，因此在测量老化的电池和/或电池暴露于低温时，这可能会产生更大的误差。不过，电压 + IR 校正功能改善了电压相关性的一些缺点。SoC 能够在放电结束时根据放电速率和温度进行调整。