ZHCAC57A February   2023  – February 2023 LMP7704-SP

 

  1.   摘要
  2.   商标
  3. 1概述
  4. 2SEE 机制
  5. 3测试设备和测试板信息
  6. 4辐照设施和设置
  7. 5SEL 结果
  8. 6SET 结果
  9. 7总结
  10.   A 置信区间计算
  11.   B 参考文献
  12.   C 修订历史记录

B 参考文献

  1. M. Shoga 和 D. Binder，“Theory of Single Event Latchup in Complementary Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits”，IEEE Trans.Nucl.Sci.，33(6) 卷，1986 年 12 月，1714-1717 页。
  2. G. Bruguier 和 J. M. Palau，“Single particle-induced latchup”，IEEE Trans.Nucl.Sci.，43(2) 卷，1996 年 3 月，522-532 页。
  3. TAMU 辐射效应设施网站。http://cyclotron.tamu.edu/ref/
  4. “The Stopping and Range of Ions in Matter”(SRIM) 软件仿真工具网站。www.srim.org/index.htm#SRIMMENU
  5. D. Kececioglu，“Reliability and Life Testing Handbook”，第 1 卷，PTR Prentice Hall，New Jersey，1993 年，186-193 页。
  6. ISDE CRÈME-MC 网站。https://creme.isde.vanderbilt.edu/CREME-MC
  7. A. J. Tylka、J. H. Adams、P. R. Boberg 等，“CREME96: A Revision of the Cosmic Ray Effects on Micro-Electronics Code”，IEEE Trans. on Nucl.Sci.，44(6) 卷，1997 年 12 月，2150-2160 页。
  8. A. J. Tylka、W. F. Dietrich 和 P. R. Boberg，“Probability distributions of high-energy solar-heavy-ion fluxes from IMP-8: 1973-1996”，IEEE Trans. on Nucl.Sci.，44(6) 卷，1997 年 12 月，2140-2149 页。