ZHCABH9A October   2018  – March 2022 TMS320F280021 , TMS320F280021-Q1 , TMS320F280023 , TMS320F280023-Q1 , TMS320F280023C , TMS320F280025 , TMS320F280025-Q1 , TMS320F280025C , TMS320F280025C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1

 

  1.   C2000 存储器开机自检 (M-POST)
  2.   商标
  3. 1引言
    1. 1.1 存储器测试要求概述
    2. 1.2 术语和定义
  4. 2存储器验证的系统挑战
    1. 2.1 存储器测试流程
    2. 2.2 SRAM 测试算法覆盖范围
    3. 2.3 ROM 测试算法覆盖范围
  5. 3总结
  6. 4参考文献
  7.   A F28004x 上的 M-POST 实现
    1.     A.1 启用测试
    2.     A.2 M-POST 持续时间
    3.     A.3 M-POST 结果
    4.     A.4 定期自检
  8.   修订历史记录

2.2 SRAM 测试算法覆盖范围

器件 SRAM 使用 March13n 算法进行测试。该算法将确保：

  • 位单元可写入和读取为 1 和 0
  • 可检测出相邻位单元之间的桥接缺陷
  • 对于行和列解码，目标位（并且仅限目标位）会在写入时受到影响
  • 对于行和列解码，进行指定读取操作时，仅将目标位呈现到存储器的边界

下表显示了 SRAM 测试期间包含的操作序列。

表 2-1 March13n 测试序列
地址初始化March 元件 1March 元件 2March 元件 3March 元件 4
0Wr(0)Rd(0)、Wr(1)、Rd(1)Rd(1)、Wr(0)、Rd(0)Rd(0)、Wr(1)、Rd(1)Rd(1)、Wr(0)、Rd(0)
1Wr(0)Rd(0)、Wr(1)、Rd(1)Rd(1)、Wr(0)、Rd(0)//
2Wr(0)Rd(0)、Wr(1)、Rd(1)Rd(1)、Wr(0)、Rd(0)Rd(0)、Wr(1)、Rd(1)Rd(1)、Wr(0)、Rd(0)
|\\\Rd(0)、Wr(1)、Rd(1)Rd(1)、Wr(0)、Rd(0)
N-1Wr(0)Rd(0)、Wr(1)、Rd(1)Rd(1)、Wr(0)、Rd(0)Rd(0)、Wr(1)、Rd(1)Rd(1)、Wr(0)、Rd(0)