ZHCAB99 December   2020 TCAN1144-Q1 , TCAN1146-Q1

 

  1.   商标
  2. 1引言
  3. 2硬件组件失效模式影响和诊断分析 (FMEDA)
    1. 2.1 随机故障估算
      1. 2.1.1 封装的故障率估算原理
      2. 2.1.2 器件永久性故障的故障估算原理
      3. 2.1.3 器件瞬态故障的故障估算原理
      4. 2.1.4 故障类别的分类和计算
    2. 2.2 使用 FMEDA 电子表格工具
      1. 2.2.1 任务剖面定制选项卡
        1. 2.2.1.1 可信度
        2. 2.2.1.2 地理位置
        3. 2.2.1.3 生命周期
        4. 2.2.1.4 用例热管理控制 (θJA) 和用例功耗
        5. 2.2.1.5 每种组件类型的安全与非安全(安全失效分数)
        6. 2.2.1.6 模拟时基故障分布方法
        7. 2.2.1.7 运行剖面
      2. 2.2.2 引脚电平定制选项卡
      3. 2.2.3 功能和诊断定制选项卡
      4. 2.2.4 诊断覆盖选项卡
      5. 2.2.5 客户定义诊断选项卡
      6. 2.2.6 总计 - ISO26262 选项卡
      7. 2.2.7 详细信息 - ISO26262 选项卡
    3. 2.3 示例指标计算
      1. 2.3.1 在安全指标计算中所使用的假设
      2. 2.3.2 器件级 ISO 26262 安全指标摘要

器件级 ISO 26262 安全指标摘要

表 2-2 提供了器件的时基故障率估算值和使用前面说明的假设按照 ISO 26262-5:2018 标准计算的安全指标。

表 2-2 TCAN1144DMT-Q1 和 TCAN1146DMT-Q1 的 ISO 26262 时基故障率估算值和安全指标
芯片封装总计
永久性瞬态永久性总和
总时基故障(原始时基故障)λ11.300.149.0322.47
安全相关时基故障λSR11.300.148.8222.47
随机硬件失效概率指标(以 FIT 为单位)PMHF4.650.070.425.14
单点故障指标SPFM65.01%50.00%95.27%76.91%
潜在故障指标LFM83.13%不适用95.50%89.23%
表 2-3 TCAN1144D-Q1 和 TCAN1146D-Q1 的 ISO 26262 时基故障率估算值和安全指标
芯片封装总计
永久性瞬态永久性总和
总时基故障(原始时基故障)λ17.600.1428.5146.25
安全相关时基故障λSR17.600.1427.8345.57
随机硬件失效概率指标(以 FIT 为单位)PMHF6.160.071.327.55
单点故障指标SPFM65.01%50.00%95.27%83.44%
潜在故障指标LFM83.13%不适用95.50%91.77%
表 2-4 TCAN1144DYY-Q1 和 TCAN1146DYY-Q1 的 ISO 26262 时基故障率估算值和安全指标
芯片封装总计
永久性瞬态永久性总和
总时基故障(原始时基故障)λ18.030.147.4325.60
安全相关时基故障λSR18.030.147.2525.43
随机硬件失效概率指标(以 FIT 为单位)PMHF6.310.070.346.72
单点故障指标SPFM65.01%50.00%95.27%73.56%
潜在故障指标LFM83.13%不适用95.50%87.72%