ZHCAAA7 June 2020
基本故障率 (BFR) 量化了半导体元件在正常 环境条件下工作时的固有安全性。BFR 乘以温度、电压和工作小时数等参数,通常得到一个可衡量元件质量 的量度。
BFR 是用于计算随机硬件指标(按功能安全标准的要求)的主要输入之一,可通过多种方法进行估算。BFR 估算方法依赖于失效模式的假设;因此,这些基本假设的差异将导致 BFR 估算的差异。
本白皮书重点介绍了两种普遍用于估算半导体元件 BFR 的方法,即分别按照 IEC 技术报告 623803 和 SN 295004 进行估算。BFR 估算是计算定量随机硬件指标的基础,其中包括:
安全失效分数 (SFF)
高需求模式下的每小时失效概率 (PFH);或低需求模式下的每日失效概率 (PFD)
单点故障度量 (SPFM)
潜在故障度量 (LFM)
硬件随机失效度量指标 (PMHF)