ZHCSQE8H November 2022 – April 2025 TPS389C03-Q1
PRODUCTION DATA
如果 TEST_CFG.AT_POR=1,则在上电复位 (POR) 时执行内置自检 (BIST)。
从 OTP 加载配置由 ECC(支持 SEC-DED)提供辅助。这是为了防止数据完整性问题并更大程度地提高系统可用性。
在 BIST 期间,NIRQ 置为无效(在故障情况下置为有效),输入引脚被忽略,并且 I2C 块在 SDA 和 SCL 置为无效时处于不活动状态。BIST 包括满足技术安全要求的器件测试。一旦 BIST 成功完成,I2C 将立即激活,并且器件在从 OTP 加载配置数据后进入活动状态。如果 BIST 失败和/或 ECC 报告双重错误检测 (DED),NIRQ 置为低电平有效,NRST 置为低电平有效,器件进入失效防护状态。表 8-13 中的 TEST_INFO 寄存器提供有关测试覆盖范围和结果的信息。此外,看门狗和 ESM 也在逻辑 BIST 中进行了介绍,并在 BIST_L 中进行了验证。
BIST 成功/失败时的详细行为由 INT_TEST 和 IEN_TEST 寄存器控制。通过以下方式报告 BIST 结果: