ZHCSMS8A September   2023  – December 2024 TMUX9616 , TMUX9616N

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特性
  3. 应用
  4. 说明
  5. 引脚配置和功能
  6. 规格
    1. 5.1 绝对最大额定值
    2. 5.2 ESD 等级
    3. 5.3 热性能信息
    4. 5.4 建议运行条件
    5. 5.5 电气特性:TMUX9616
    6. 5.6 开关特性:TMUX9616
    7. 5.7 数字时序:TMUX9616
    8. 5.8 时序图
    9. 5.9 典型特性
  7. 参数测量信息
    1. 6.1 关断漏电流
    2. 6.2 器件导通/关断时间
    3. 6.3 关断隔离
    4. 6.4 通道间串扰
    5. 6.5 输出电压峰值
    6. 6.6 开关直流失调电压
    7. 6.7 隔离二极管电流
  8. 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 宽输入信号范围(最高 ±110V,220V VPP)
      2. 7.3.2 双向运行
      3. 7.3.3 器件数字逻辑控制
      4. 7.3.4 器件构造可实现闩锁效应抑制
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 正常模式
      2. 7.4.2 器件上电
    5. 7.5 器件逻辑表
  9. 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计要求
      2. 8.2.2 详细设计过程
      3. 8.2.3 应用曲线
    3. 8.3 电源相关建议
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 器件和文档支持
    1. 9.1 文档支持
      1. 9.1.1 相关文档
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

器件构造可实现闩锁效应抑制

闩锁是在电源引脚和接地之间创建低阻抗路径的情况。这种情况由触发器(电流注入或过压)引起,一旦激活,即使触发器不再存在,低阻抗路径也仍然存在。该低阻抗路径可能会因电流电平过高而导致系统混乱或巨大损坏。闩锁情况通常需要下电上电来消除低阻抗路径。

TMUX9616x 采用基于绝缘体硅 (SOI) 的工艺制造,在每个 CMOS 开关的 PMOS 和 NMOS 晶体管之间添加了氧化层,用于防止形成寄生结构。氧化层也称为绝缘沟道,可防止因过压、快速电压压摆率和电流注入而触发闩锁效应事件。闩锁效应抑制使得 TMUX9616x 能够在恶劣的环境中使用。请参阅使用闩锁效应抑制多路复用器帮助改善系统可靠性,了解有关闩锁效应抑制的更多信息。