ZHCSNN4D October 2020 – May 2025 LMG3422R050 , LMG3426R050 , LMG3427R050
PRODUCTION DATA
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 开关时间 | ||||||
| td(on)(Idrain) | 漏极电流导通延迟时间 | 从 VIN > VIN,IT+ 到 ID > 1A,VBUS = 400V,LHB 电流 = 10A,参阅图 6-1 与 图 6-2 | 28 | 42 | ns | |
| td(on) | 导通延迟时间 | 从 VIN > VIN,IT+ 到 VDS < 320V,VBUS = 400V,LHB 电流 = 10A,参阅图 6-1 与 图 6-2 | 32 | 52 | ns | |
| tr(on) | 导通上升时间 | 从 VDS < 320V 到 VDS < 80V,VBUS = 400V,LHB 电流 = 10A,参阅 图 6-1 与 图 6-2 | 2.5 | 4 | ns | |
| td(off) | 关断延迟时间 | 从 VIN < VIN,IT– 到 VDS > 80V,VBUS = 400V,LHB 电流 = 10A,参阅图 6-1 与 图 6-2 | 44 | 65 | ns | |
| tf(off) | 关断下降时间(1) | 从 VDS > 80V 到 VDS > 320V,VBUS = 400V,LHB 电流 = 10A,参阅 图 6-1 与 图 6-2 | 21 | ns | ||
| FET 导通所需的最小输入高电平脉冲宽度 | VIN 上升/下降时间 < 1ns,VDS 下降至 < 200V,VBUS = 400V, LHB 电流 = 10A,参阅图 6-1 | 24 | ns | |||
| 启动时间 | ||||||
| t(start) | 驱动器启动时间 | 从 VVDD > VVDD,T+(UVLO) 到 “故障”高电平,CLDO5V = 100nF,CVNEG = 2.2µF(0V 偏压时)线性下降到 1.5µF(15V 偏压时) | 310 | 470 | us | |
| 故障时间 | ||||||
| toff(OC) | 过流故障 FET 关断时间,过流前 FET 导通 | VIN = 5V,从 ID > IT(OC) 到 ID < 50A,ID di/dt = 100A/µs | 110 | 145 | ns | |
| toff(SC) | 短路电流故障 FET 关断时间(FET 在短路前处于导通状态) | VIN = 5V,从 ID > IT(SC) 到 ID < 50A,ID di/dt = 700A/µs | 65 | 100 | ns | |
| 过流故障 FET 关断时间(FET 导通时进入过流状态) | 从 ID > IT(OC) 到 ID < 50A | 200 | 250 | ns | ||
| 短路故障 FET 关断时间(FET 导通时进入短路状态) | 从 ID > IT(SC) 到 ID < 50A | 100 | 180 | ns | ||
| 清除“故障”锁存的输入复位时间 | 从 VIN < VIN,IT– 到故障高电平 | 250 | 380 | 580 | us | |
| t(window)(OC) | 过流故障至短路故障的窗口时间 | 50 | ns | |||
| 理想二极管模式控制时间 | ||||||
| 过温关断理想二极管模式输入下降消隐时间 | 150 | 230 | 360 | ns | ||
| 零电压检测与零电流检测时间 | ||||||
| tWD_ZVD | ZVD/ZCD 脉冲宽度 | 请参阅 图 6-3 | 75 | 100 | 140 | ns |
| tDL_ZVD | 输入上升到 ZVD 脉冲上升沿之间的时间延迟 | 请参阅 图 6-3 | 15 | 30 | ns | |
| t3rd_ZVD | ZVD 脉冲开始出现时的第三象限导通时间 | Vbus = 10V,IL = 5A,Rdrv = 5V,测量 ZVD 脉冲开始出现时的第三象限导通时间。请参阅 图 6-3 | 42 | 56 | ns | |
| tZCD_Blank | FET 导通后的 ZCD 脉冲的有效消隐时间。 | RDRV 保持在 5V(100V/ns)。IL = 5A | 60 | 96 | 140 | ns |
| tzc_Det | 电流过零到 ZCD 脉冲的时间 | di/dt = 30A/µs | 20 | 57 | ns | |