9 修订历史记录
Date Letter Revision History Changes Intro HTMLB (December 2015)to RevisionC (August 2026)
- 更新了最小的宽电源电压范围,从 2.5V 更新至 2.7VGo
- 删除了高输出电流特性Go
- 将 GBWP 从 21MHz 更新为了 24MHzGo
- 将转换率从 15.2V/μs 更新为了 35V/μsGo
- 将总电源电流从 2mA 更新为 2.7mAGo
- 将供电电压 (VS = V+ – V−) 从 35V 更新为 33VGo
- 将输入/输出引脚的最小电压从 V+ + 0.3V 更新为 V− − 0.5V,并将最大电压从 V− − 0.3V 更新为 V+ + 0.5VGo
- 添加了充电器件模型额定值Go
- 将 DGK (VSSOP) 封装的结至环境热阻从 161.1°C/W 更新为 169.6°C/WGo
- 将 D (SOIC) 封装的结至环境热阻从 109.1°C/W 更新为 124.0°C/WGo
- 将 DGK (VSSOP) 封装的结至外壳(顶)热阻从 55°C/W 更新为 61.6°C/WGo
- 将 D (SOIC) 封装的结至外壳(顶)热阻从 55.8°C/W 更新为 67.3°C/WGo
- 将 DGK (VSSOP) 封装的结至板热阻从 80.5°C/W 更新为 91.2°C/WGo
- 将 D (SOIC) 封装的结至板热阻从 49.2°C/W 更新为 68.4°C/WGo
- 将 DGK (VSSOP) 封装的结至顶部表征参数从 5.5°C/W 更新为 9.0°C/WGo
- 将 D (SOIC) 封装的结至顶部表征参数从 10.7°C/W 更新为 19.9°C/WGo
- 将 DGK (VSSOP) 封装的结至板表征参数从 79.2°C/W 更新为 89.7°C/WGo
- 将 D (SOIC) 封装的结至板表征参数从 48.7°C/W 更新为 67.6°C/WGo
- 更新了最小的宽电源电压范围,从 2.5V 更新至 2.7VGo
- 已将输入偏移电压典型值从 ±1.6mV 更新为 ±0.35Go
- 将输入偏移电压漂移典型值从 ±2µV/°C 更新为 ±2.5µV/°CGo
- 将输入偏置电流典型值从 ±1µA 更新为 0.4µAGo
- 将输入偏移电流典型值从 20nA 更新为 7nAGo
- 将输入共模电压范围最小值从 5.1V 更新为 (V−) − 0.1Go
- 将输入共模电压范围最小值从 −5.1V 更新为 (V+) + 0.1Go
- 删除输入共模电压范围典型值Go
- 将所有输出摆幅高和输出摆幅低典型值更新为 50mV(来自任一电源轨)Go
- 根据新裸片特性更新了 CMRR 规范Go
- 更新了总电源电流典型值,从 1.5mA 更新到 2.7mA,TA= 25°C 的最大值从 2.4mA 更新到 3.86mA,TA = –40°C 至 +125°C 时,从 2.6mA 更新到 4.46mAGo
- 将压摆率典型值从 13.2V/μs 更新到 35V/μsGo
- 已将闭环输出电阻从 3Ω 更新为 1ΩGo
- 将单位增益频率从 7.9MHz 更新为 11MHzGo
- 将增益带宽积从 19.9MHz 更新为 24MHzGo
- 将总计谐波失真 + 噪声从 −87dB 更新为 −113dBGo
- 将串扰抑制从 68dB 更新为 120dBGo
- 根据新裸片特性更新了曲线图Go
- 添加了新旧裸片比较 一节Go
- 删除了接近 V 的输出电压摆幅
部分Go
- 添加了电过应力 部分Go
Date Letter Revision History Changes Intro HTMLA (March 2013)to RevisionB (December 2015)
- 添加了器件信息、ESD 等级和Thermal 热性能信息 表、特性说明部分、器件功能模式、应用和实施部分、电源相关建议部分、布局部分、器件和文档支持部分以及机械、封装和可订购信息部分。Go
Date Letter Revision History Changes Intro HTML* (March 2013)to RevisionA (March 2013)