图 4-3 显示了低侧制动 IGBT 栅极驱动测试的平台。LAUNCHXL-F28379D 的 C2000™ LaunchPad™ 用作系统控制器来生成一系列 10kHz PWM 脉冲，占空比为 10%（或在每个 100μs 周期内导通时间为 10μs），用以驱动低侧 IGBT。该 LaunchPad 还为 AMC23C11 的 LATCH 输入生成高电平输出，并通过 GPIO 监测 nDESAT 信号。

要测试 OCP 或 SCP 状况，请使用一个 600V、10A 分立式 IGBT，以及并联两个 1.5Ω、3W 电阻器来模拟制动电阻器。电阻器插入在 IGBT 集电极和 350V DC+ 电源轨之间。图 4-4 显示了测试结果。

在此测试中，导通 IGBT 之后 (t = 0s)，集电极电流开始上升，并很快在约 90A (t = 480ns) 时达到饱和。根据待测 IGBT 的数据表，当集电极电流达到 70A 时，V_CE 将增加到为电路设置的 8V 触发电平。在大约 780ns 的消隐时间后，隔离式比较器 AMC23C11 检测到 DESAT。然后，通常经过 240ns 的内部延迟后，AMC23C11 的 OUT 会切换至低电平 (t = 1.04μs) 并进行锁存（当 LATCH 设置为高电平时）。在抗尖峰脉冲滤波器经过大约 340ns 的另一次延迟后，与非门 SN74LVC1G00 的输出切换至高电平并切断 USS23513 的输入电流，使栅极驱动器下拉 VGATE (t = 1.44μs)。DESAT 反应时间（从 IGBT 的电流达到 70A 到 GATE 变为低电平后电流开始下降的时间）仅为大约 1.16μs。