ZHCAB61 November 2020 AWR1843 , AWR2243
TX 移相器存在固有的误差,该误差会因工艺和温度而变化。有两种可能的方法来降低工艺差异的影响(温度差异的影响会在后续几节中加以介绍)。
在 RF INIT 过程中,会执行 AWR 器件的 TX 移相器自校准。这些校准使用器件的内部 TX 环回路径和算法。这些校准的结果可以用作所有现场 TX 移相器误差减小措施的基准。
消息 AWR PHASE SHIFTER CAL DATA SAVE SB 可用于针对级联系统中的每个 TX 将数据保存到传感器的非易失性存储器上。这个数据可以恢复到 AWR 器件上,该部分内容会在本文档的稍后部分中加以介绍。
如果从器件的客户工厂内部 RF INIT TX 移相器校准获取移相器校准值:
用户应考虑 API 的相位索引格式,该格式可能会因 TX 不同而不同;具体请参阅 7.5 小节。
在工厂温度条件下收集的 Factory Measured Phase Shift ArrayRF INIT TX PS Cal,TXm (0-63) 数组必须恢复到器件上(本文档稍后部分会加以介绍)。公式 1 中 Measured Phase Shift Array 的示例值:[0, 5, 11, … 356] 度,对应于 [0, 5.625, 11.25, … 354.375] 度移相器设置。这些相当于 INL 误差值为 [0, 0.625, 0.25, …, –1.625] 度,即与理想预期值的偏差。INL 误差一词是指积分非线性误差(本应用手册的很多地方都用到)。
图 3-1(a) 展示了 25°C 条件下通过内部 RF INIT 校准测得的原始模拟 TX 移相器 INL。图 3-1(a) 中还展示了校准后残留的 PS INL,用以说明 RF INIT TX 相移校准的效果。另外,图 3-1(b) 展示了使用外部/独立方法测得的原始模拟 TX 移相器 INL。图 3-1(a) 和图 3-1(b) 中的图形比较相似,展示了内部校准的效果。这些都是在几个基于标称流程的器件的 TI 实验室评估中得到的。
上述方法介绍了如何降低工艺差异的影响,而关于如何降低温漂影响的策略会在本应用手册的后续部分加以介绍。