ZHCAB61 November 2020 AWR1843 , AWR2243
在单芯片用例中,自校准/运行时校准会以 10°C 的温度区间重新配置模拟部分,从而降低温度带来的影响。如果级联系统中的器件可以单独进行校准(例如在自动周期性校准模式下),则各器件可以在不同的时间执行校准更新,具体取决于各器件的温度。由于每个器件的模拟重新配置会导致其相位响应发生变化,这些校准更新会导致级联系统的通道间不平衡突然发生变化(请参阅本应用手册后续几节中的图形)。这些校准更新还会导致雷达返回信号的绝对相位在一段时间内发生突变并损坏高级单芯片算法。
为了避免此类突变,TI 建议客户使用传感器的工厂校准程序(如后续几节中所述),并且在现场实时操作期间,主机处理器应使用某个温度指数更新序列来重新配置 AWR 器件,从而控制校准触发并针对处理中的预期相位突变提供补偿。