在以下示例中，BQ25856-Q1 IC 与 MSPM0L2228 MCU 一起测量八个串联超级电容器的电容和 ESR。BQ25856-Q1 与 MCU 主机控制器可以通过以下步骤测量 ESR 和电容：

1. 测量电容器的电压
2. 计算总充电时间和充电电流，以确保 BQ25856-Q1 在整个充电过程中保持恒流模式
3. 开始对电容器充电
4. 充电开始后测量 V_Initial
5. 充电结束前测量 V_Ending
6. 停止为电容器充电
7. 当没有充电电流时，测量 V_Final
8. 使用 V_Initial、V_Ending 和两次测量之间的时间来计算电容
9. 使用充电电流、V_Ending 和 V_Final 计算 ESR。

以下测试结果是在下列条件下测试得出的：

• V_AC = 10V
• I_CHG = 1A
• t_pulse = 1s
• C_{OUT_nominal} = 10F x 8S1P
• R_{ESR_nominal} = 35 mΩ x 8S1P

在 图 3-3 中，BQ25856-Q1 需要大约三秒的时间来为电容器充电以测量电容和 ESR。如果需要，可在更短的时间内完成测量。

图 3-3 展示了一个演示测量代码实现方案的示例波形。器件开始使用在通道 4 上探测到的 I_CHG 电流为电容器充电。在通道 1 上探测 IC 两端的电容器电压。每次进行 ADC 测量时，器件的 /INT 引脚都会使中断置为有效。在通道 2 上监控 /INT 引脚，以演示代码时序。通道 2 上的第一个脉冲显示了用于确定 V_Initial 的第一个 ADC 测量值。在此之后，计时器开始计时，充电会持续 1 秒。通道 2 上的第二个脉冲显示了用于确定 V_Ending 的第二个 ADC 测量值。在 ADC 测量之后会立即禁用充电，并且还有另一个等待期来使电容器电压稳定。通道 2 上的第三个脉冲显示了用于确定 V_Ending 的最后一个 ADC 测量值。使用 方程式 5 和 方程式 4，可以通过 BQ25856-Q1 的 ADC 测量值、BQ25856-Q1 设置的已知充电电流以及 MCU 计时器的已知充电时间来确定 ESR 和电容。

测量完成后，整个充电周期可以恢复，直到电容器充电并准备好提供备用电源。可以跟踪计算出的电容和 ESR 随时间的变化，以确定电容器何时达到使用寿命。在此测试中，电容器是旧的且磨损的，并且已经达到使用寿命，因为 ESR 远大于标称值，并且电容已降至原始值的 70%。当计算得出的电容降至标称值的 80%以下或 ESR 超过标称值的 200% 时，表明电容器已达到 EOL。