ZHCZ051B November   2024  – September 2025 F29H850TU , F29H859TU-Q1

 

  1.   1
  2.   F29H85x、F29P58x 和 F29P32x MCU 器件勘误表器件修订版本 A、0
  3. 1使用说明和公告模型
    1. 1.1 使用说明汇总表
    2. 1.2 公告汇总表
  4. 2命名规则、封装编号法和修订版本标识
    1. 2.1 器件和开发支持工具命名规则
    2. 2.2 支持的器件
    3. 2.3 封装编号法和修订版本标识
  5. 3器件修订版本 B 使用说明和公告
    1. 3.1 器件修订版本 B 使用说明
    2. 3.2 器件修订版本 B 公告
      1.      公告
      2. 3.2.1  公告
      3.      公告
      4. 3.2.2  公告
      5. 3.2.3  公告
      6. 3.2.4  公告
      7. 3.2.5  公告
      8. 3.2.6  公告
      9. 3.2.7  公告
      10.      公告
      11. 3.2.8  公告
      12.      公告
      13.      公告
      14.      公告
      15. 3.2.9  公告
      16. 3.2.10 公告
  6. 4器件修订版本 A 使用说明和公告
    1. 4.1 器修订版本 A 使用说明
      1. 4.1.1 安全性：在器件修订版本 B 器件上编程的新 TI 密钥
    2. 4.2 器件修订版本 A 公告
      1. 4.2.1 公告
      2. 4.2.2 公告
      3. 4.2.3 公告
      4. 4.2.4 公告
      5. 4.2.5 公告
  7. 5器件修订版本 0 使用说明和公告
    1. 5.1 器件修订版本 0 使用说明
    2. 5.2 器件修订版本 0 公告
      1. 5.2.1 公告
      2. 5.2.2 公告
  8. 6文档支持
  9. 7商标
  10. 8修订历史记录

公告

ePWM：如果跳闸在消隐窗口结束时保持活动状态，则可能会发生 ePWM 干扰

受影响版本

0、A、B

详细信息

消隐窗口通常用于屏蔽转换期间将导致系统误跳闸的任何 PWM 跳闸事件。如果在消隐窗口周期结束后，ePWM 跳闸事件在少于三个 ePWM 时钟内保持活动状态，则 ePWM 输出上可能会存在不良干扰脉冲。

图 3-1 展示了可能会导致不良 ePWM 输出的时间段。

F29H859TU-Q1 F29H850TU 不良跳闸事件和消隐窗口过期图 3-1 不良跳闸事件和消隐窗口过期

图 3-2 展示了如果跳闸事件在消隐窗口关闭之前的 1 个周期或关闭之后的 3 个周期内结束，可能出现的两个 ePWM 输出。

F29H859TU-Q1 F29H850TU 可能会产生不良的 ePWM 输出图 3-2 可能会产生不良的 ePWM 输出

权变措施

扩展或减小消隐窗口，以避免任何不良的跳闸操作。