2 了解 EOS

ESD 行业委员会将电气过应力 (EOS) [3] 定义为“当器件两端的电压、流经器件的电流或器件耗散的功率中的任何一个超过其最大限值，导致器件立即损坏或出现故障，或者造成潜在损坏，从而致使其使用寿命出现不可预测的缩短的情况。”在这些情况下，过电压会打开意外的电流路径，例如导致二极管发生正向或反向击穿，或使集成电路 (IC) 内部的氧化层达到击穿电压。一旦过压引发意外的电流路径，产生的电流就会造成损坏，包括硅材料熔化、金属互连熔断、封装材料热损坏，以及键合线熔断，从而导致电致物理损坏 (EIPD)。

可以将 EOS 与特定于器件额定电压的绝对最大额定值相关联：

• 区域 A：安全工作区。
• 区域 B：不保证器件功能或参数规范。尽管预计不会出现物理损坏，但延长运行时间可能会存在可靠性问题。
• 区域 C：超过绝对最大额定值，器件寿命会严重缩短，并存在潜在失效风险。
• 区域 D：预计会立即遭受物理损坏。

如 图 1 所示，当器件在超出绝对最大额定值运行时，应预料到会出现问题。因此，必须采取保护措施来抑制超过绝对最大额定值的瞬态过电压。