ZHCSZG0 December 2025 UCC21711-Q1
PRODUCTION DATA
对于没有 SenseFET 的 SiC MOSFET 和 IGBT 模块,去饱和 (DESAT) 电路常用于过流和短路保护。该电路由一个电流源、一个电阻器、一个消隐电容器和一个二极管组成。通常情况下,电流源由栅极驱动器提供。当器件导通时,电流源会对消隐电容进行充电,同时使二极管正向偏置。在正常工作期间,该电容器电压由开关管的 VCE 电压箝位。发生短路时,电容器电压会快速充电至阈值电压,从而触发器件关断。对于 UCC21711-Q1,OC 引脚不具有内部电流源。电流源应由输出电源从外部生成。当 UCC21711-Q1 处于关断状态时,OC 引脚由内部 MOSFET 下拉,进而在 OC 引脚上产生失调电压。若选择明显高于内部 MOSFET 的下拉电阻的 R1 和 R2,则可忽略失调电压。当 UCC21711-Q1 处于导通状态时,OC 引脚为高阻抗。电流源由输出电源 VDD 和外部电阻分压器 R1、R2 和 R3 生成。IGBT 的过流检测阈值电压为:

检测电路的消隐时间为:

其中:
改进后的去饱和电路具有传统去饱和电路的所有优势。这种电路的功率损耗可忽略不计,而且很容易实现。IGBT 的检测阈值电压和消隐时间可由外部元件进行编程设置。与传统去饱和电路不同,IGBT 的过流检测阈值电压可改至任意电压等级,既能高于驱动器的检测阈值电压,也可低于该电压。可以在 OC 引脚和 COM 引脚之间接入一个并联的肖特基二极管,以防止有噪声系统中 OC 引脚上出现负电压。去饱和电路测量 IGBT 的 VCE 或 SiC MOSFET 的 VDS,而不是直接测量电流,因此其保护精度不及基于 SenseFET 的保护方法。在这种保护方法中无法准确控制电流阈值。
图 8-8 基于去饱和电路的过流和短路保护