ZHCSVC0 May 2025 TPS4816-Q1
PRODUCTION DATA
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| tGATE(INP_H) | INP 导通传播延迟 | INP ↑ 至 GATE ↑,CL(GATE) = 47nF | 1.2 | 2.5 | µs | |
| tGATE(INP_L) | INP 关断传播延迟 | INP ↓ 至 GATE ↓,CL(GATE) = 47nF | 0.35 | 1.5 | µs | |
| TG (INP_G_H) | INP_G 导通传播延迟 | INP_G ↑ 至 G ↑、CL(G) = 1nF | 10 | 15 | µs | |
| tGATE (INP_G_L) | INP_G 关断传播延迟 | INP_G ↓ 至 G ↓、CL(G) = 1nF | 1 | 2.5 | µs | |
| tGATE(EN_OFF) | EN 关断传播延迟 | EN ↓ 至 GATE ↓、CL(GATE) = 47nF, INP = 高电平 |
3.1 | 4.5 | µs | |
| tGATE(UVLO_OFF) | UVLO 关断传播延迟 | UVLO ↓ 至 GATE ↓、CL(GATE) = 47nF、 INP = 高电平 |
4 | 6.5 | µs | |
| tGATE (OV_OFF) | OV 关断传播延迟 | OV ↓ 至 GATE ↓、CL(GATE) = 47nF | 4 | 6.5 | µs | |
| tGATE(UVLO_ON) | UVLO 至 GATE 导通传播延迟,CBT 预偏置大于 VPORF 且 INP 保持高电平 | EN/UVLO ↑至 GATE ↑、CL(GATE) = 47nF、 INP = 高电平、 |
8.5 | 25 | µs | |
| tGATE(VS_OFF) | GATE 关断传播延迟,VS 下降至低于 VPORF 且 INP、EN/UVLO 保持高电平 | VS ↓(越过 VPORF)至 GATE ↓, CL(GATE) = 47nF、 INP = EN/UVLO = 2V |
25 | 40 | µs | |
| tSC | 工作模式下的短路保护传播延迟 | V(CS1+–CS1-)↑ V(SCP) 至 GATE ↓, CL(GATE) = 47nF |
3.9 | 5 | µs | |
| tBYPASS_SC | 旁路路径下的短路保护传播延迟(短路状态下上电进入 INP_G = 高电平) | V(DRN–CS2-) ↑V(BYPASS_SCP) 至 G↓、 CL (G)= 1nF、 V(INP_G) = 2V |
3.1 | 4.5 | µs | |
| tGATE(FLT_ASSERT) | 短路期间的 FLT 置为有效延迟 | V(CS1+–CS1–) ↑ V(SCP) 至 FLT ↓ | 15 | 21 | µs | |
| tGATE(FLT_DE_ASSERT) | 短路期间的 FLT 置为无效延迟 | V(CS1+–CS1–) ↓ V(SCP) 至 FLT ↑ | 3.8 | µs | ||
| tGATE(FLT_ASSERT_BSTUVLO) | GATE 驱动 UVLO 期间的 FLT 置为有效延迟 | V(GATE–SRC) ↓ V(BSTUVLOR) 至 FLT ↓ | 30 | µs | ||
| tGATE(FLT_DE_ASSERT_BSTUVLO) | GATE 驱动 UVLO 期间的 FLT 置为无效延迟 | V(GATE–SRC) ↑ V(BSTUVLOR) 至 FLT ↑ | 15 | µs | ||
| t(IDIR_DELAY) | I_DIR 引脚上的电流方向指示延迟 | V(SNS) ↑ 或 ↓ 至 V(I_DIR) ↑ 或 ↓ |
6.5 | 10 | µs | |