ZHCSTJ2B October 2023 – February 2026 TPS3762-Q1
PRODUCTION DATA
引脚 | 类型(1) | 说明 | |
|---|---|---|---|
| 名称 | 编号 | ||
| VDD | 1 | I | 输入电源电压:电源电压引脚。对于有噪声的系统,请使用 0.1µF 电容器旁路至 GND。 |
| SENSE | 2 | I | 检测电压:将此引脚连接到必须监控的电源轨。请参阅第 8.3.2 节以了解更多详细信息。 检测拓扑:过压 (OV) 或欠压 (UV) 或窗口 (OV + UV) |
GND | 3 | - | 接地。接地引脚。所有 GND 引脚必须以电气方式连接到电路板接地。 |
| RESET | 4 | O | 输出复位信号:当 SENSE 在 CTS 设置的检测延时时间后超过电压阈值时,RESET 置为有效、并在 SENSE 退出故障条件后在 CTR 设置的复位延时时间内保持有效。对于锁存器型号,RESET 保持有效状态、直到锁存器被清除。低电平有效开漏复位输出需要一个外部上拉电阻器。请参阅第 8.3.3.2 节以了解更多详细信息。 输出拓扑:开漏低电平有效 |
| BIST | 5 | O | 内置自检:当 BIST_EN / LATCH_CLR 或 BIST_EN 引脚上出现逻辑高电平输入时,BIST 置为有效,这将启动内部 BIST 测试。BIST 在 tBIST 时间后恢复,表示 BIST 成功完成。如果在 BIST 期间出现故障,BIST 保持置为有效的时间会长于 tBIST。BIST 低电平有效开漏输出需要一个外部上拉电阻器。请参阅第 8.3.6 节以了解更多详细信息。 |
BIST_EN / LATCH_CLR | 6 | I | 内置自检使能和锁存清除:BIST_EN / LATCH_CLR 上必须出现上升沿输入才能启动 BIST。对于启用了锁存器的器件,逻辑低电平输入将启用锁存器,逻辑高电平输入将禁用/清除锁存。引脚 6 具有一个内部 100kΩ 下拉电阻器,可用于实现启动锁存。请参阅第 8.3.6 节以了解更多详细信息。 |
| CTR | 7 | O | RESET 延时时间:RESET 的用户可编程复位延时时间。连接外部电容器来实现可调节的延时时间,或使引脚悬空来实现最短延时。有关更多详细信息,请参阅第 8.3.4 节。 |
CTS | 8 | O | SENSE 延时时间:SENSE 的用户可编程检测延时时间。连接外部电容器来实现可调节的延时时间,或使引脚悬空来实现最短延时。请参阅第 8.3.5 节以了解更多详细信息。 |