ZHCAG93 August   2026 DS90UB948-Q1 , DS90UB954-Q1 , DS90UB960-Q1 , DS90UB984-Q1 , DS90UB988-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3. 1S参数基础理论
    1. 1.1 特征阻抗详解
    2. 1.2 反射系数详解
    3. 1.3 插入损耗详解
    4. 1.4 回波损耗详解
    5. 1.5 二端口与四端口S参数详解
  4. 2S 参数的测量方法与校准技术
    1. 2.1 矢量网络分析仪原理介绍
    2. 2.2 TDR测试详解
    3. 2.3 VNA校准操作流程
    4. 2.4 S11与 S21的测试方法
  5. 3FPD-Link Channel Spec 解析
    1. 3.1 总链路、PCB 和线缆Channel spec介绍
    2. 3.2 Channel Spec解析
    3. 3.3 FPD-Link Channel Spec 设计与测试关键注意点
  6. 4总结
  7. 5参考

特征阻抗详解

特征阻抗(Characteristic Impedance, Z0 )是电磁波在传输线介质中传播时,电场与磁场相互作用所体现的"波阻抗"。在高频情况下,当导线长度超过信号波长的1/10时,导线不再被视为理想导体,必须采用分布参数模型(RLCG模型)进行分析。

理论基础: 根据电报方程(Telegrapher's Equations),特征阻抗由传输线的分布电感(L)和分布电容(C)决定。在理想无损线中,其计算公式为:

方程式 1. Z 0 = L C

在PCB layout设计中,有如下多个因素会影响特征阻抗:

  1. 线宽(W):导体宽度直接影响电容分量。线宽增加时,导体与参考平面间的电容增大,导致特征阻抗降低。例如,当微带线宽度从5mil增加到10mil时,在相同介质条件下,特征阻抗可能从70Ω降至35Ω。
  2. 介质厚度(H):信号层与参考平面之间的距离。介质厚度增加会减小单位长度电容,从而使特征阻抗升高。例如,将介质厚度从4mil增至8mil,特征阻抗可能从50Ω升至70Ω。
  3. 铜厚(T):导体厚度影响边缘电场分布。铜厚增加时,边缘电容效应增强,特征阻抗略微降低。通常1oz铜厚(1.4mil) 比0.5oz铜厚(0.7mil) 的特征阻抗低约2-3Ω。
  4. 介电常数 ( εr ):介质材料的固有属性。 εr 值越高,单位长度电容越大,特征阻抗越低。例如,在相同几何尺寸下,使用 εr =4.5的FR4材料比 εr =3.5的高频材料特征阻抗低约15%。

PCB的走线模型有两种,微带线模型与带状线模型。

  1. 微带线 (Microstrip Line)

    结构特点:信号导体位于PCB表面,下方是介质基板和参考平面。

    特征:存在部分空气介质,有效介电常数介于空气和基板材料之间。

    典型应用:表层高速信号走线。

    优势:易于布线和测试。

    阻抗计算公式:

    方程式 2. Z 0 = 87 ε r + 1.41 l n 5.98 H 0.8 W + T
  2. 带状线 (Strapline)

    结构特点:信号导体完全嵌入在两个参考平面之间的介质中。

    特征:完全被介质包围,电场分布相对微带线更均匀。

    典型应用:内层高速信号走线。

    优势:更好的电磁屏蔽性能。

    阻抗计算公式:

    方程式 3. Z 0 = 60 ε r l n 1.9 2 H + T 0.8 W + T

在汽车应用中,为了实现最大功率传输并最小化反射,通常严格定义阻抗控制标准: 同轴电缆(Coax):标准单端阻抗为 50 Ω。屏蔽双绞线(STP):标准差分阻抗为 100 Ω。任何阻抗的不连续点,如连接器、过孔或线宽变化,都会导致信号反射,进而影响信号完整性。