ZHCAG92
September 2026
LMG3526R030
1
摘要
1
引言
1.1
软开关基本原理
1.2
软开关死区时间损耗
1.3
GaN应用的挑战
2
基于ZVD的自适应死区时间控制
2.1
TI GaN ZVD功能
2.2
LLC原边自适应死区时间控制
2.3
LLC副边自适应死区时间控制
3
PLECS仿真验证
4
总结
5
参考文献
Application Note
基于TI GaN ZVD技术优化死区时间控制