ZHCAG86 July 2026 AWR2944 , AWR2944P
STC(Self-Test Controller)基于 OPMISR(On-Product Multiple Input Signature Register)对 CPU 内核逻辑门电路进行 逻辑自测(Logic Built-In Self-Test)。STC 主要包含 ROM 接口、FSM 序列控制器、寄存器文件、Bypass/ATE 接口和 VBUSP 接口。
STC 从片上 ROM 读取测试码(含 Segment ID、Pattern Count、Golden MISR 值),将扫描数据移入被测逻辑,最后将 OPMISR 控制器产生的 896 位 MISR 值与 ROM 中的 Golden MISR 值比较,结果写入状态寄存器。支持 Stuck-at 故障模型和 Launch-on-System-Clock 转换延迟方法。
AWR2944中MSS 和 DSS 的 STC 实例独立运行,可分别触发。
STC模块测试流程:
| 步骤 | 操作 | 说明 |
|---|---|---|
| 1 | SDL_TEST_dplInit | 初始化 DPL |
| 2 | SDL_ESM_init | 注册 STC 事件 |
| 3 | SDL_STC_config | 配置 STC 参数(测试时长/间隔/算法) |
| 4 | SDL_STC_selfTest | 执行 STC 自测 |
| 5 | 等待完成/超时 | 等待测试完成或超时 |
| 6 | SDL_STC_getResult | 读取测试结果 |
| 7 | 清除中断 | 清除 STC 中断标志 |
| 关键函数 | 功能 |
|---|---|
| SDL_STC_selfTest | 执行 STC LBIST 自测 |
| SDL_STC_config | 配置 STC 参数 |
| SDL_STC_getResult | 获取 STC 测试结果 |