ZHCSJ38E December   2018  – May 2026 TPS3840

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1 绝对最大额定值
    2. 6.2 ESD 等级
    3. 6.3 建议运行条件
    4. 6.4 热性能信息
    5. 6.5 电气特性
    6. 6.6 时序要求
    7. 6.7 典型特性
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 输入电压 (VDD)
        1. 7.3.1.1 VDD 磁滞
        2. 7.3.1.2 VDD 瞬态抗扰度
      2. 7.3.2 用户可编程复位延时时间
      3. 7.3.3 手动复位 (MR) 输入
      4. 7.3.4 输出逻辑
        1. 7.3.4.1 RESET 输出，低电平有效
        2. 7.3.4.2 RESET 输出，高电平有效
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 正常运行 (VDD > VDD(min))
      2. 7.4.2 VPOR 和 VDD(min) 之间的 VDD
      3. 7.4.3 低于上电复位 (VDD < VPOR)
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计 1：具有上电时序控制的双电压轨监测
        1. 8.2.1.1 设计要求
        2. 8.2.1.2 详细设计过程
        3. 8.2.1.3 应用曲线
      2. 8.2.2 设计 2：电池电压与温度监测
        1. 8.2.2.1 设计要求
        2. 8.2.2.2 详细设计过程
      3. 8.2.3 设计 3：具有电平位移输入的快速启动欠压监测器
        1. 8.2.3.1 设计要求
        2. 8.2.3.2 详细设计过程
      4. 8.2.4 设计 4：具有备用电池切换功能的电压监测器
        1. 8.2.4.1 设计要求
        2. 8.2.4.2 详细设计过程
      5. 8.2.5 应用曲线：TPS3840EVM
    3. 8.3 电源相关建议
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 器件命名规则
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.7 典型特性

典型特性显示了 TPS3840 器件的典型性能。测试条件为 TJ = 25°C，VDD = 3.3V，Rpull-up = 100kΩ，CLoad = 50pF，除非另有说明。

TPS3840 TPS3840DL49 的电源电流与电源电压间的关系图 6-4 TPS3840DL49 的电源电流与电源电压间的关系
TPS3840 TPS3840PH49 的电源电流与电源电压间的关系图 6-6 TPS3840PH49 的电源电流与电源电压间的关系
TPS3840 TPS3840PLXX 负向输入阈值精度随温度变化曲线图 6-8 TPS3840PLXX 负向输入阈值精度随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840DLXX 的输入阈值 VIT- 磁滞精度图 6-10 TPS3840DLXX 的输入阈值 VIT- 磁滞精度
TPS3840 TPS3840PHXX 的输入阈值 VIT- 磁滞精度图 6-12 TPS3840PHXX 的输入阈值 VIT- 磁滞精度
TPS3840 TPS3840PL49 的输出电压与输入电压间的关系图 6-14 TPS3840PL49 的输出电压与输入电压间的关系
TPS3840 TPS3840DL49 的低电平输出电压与 IRESET 间的关系图 6-16 TPS3840DL49 的低电平输出电压与 IRESET 间的关系
TPS3840 TPS3840PL49 的低电平输出电压与 IRESET 间的关系图 6-18 TPS3840PL49 的低电平输出电压与 IRESET 间的关系
TPS3840 TPS3840PH49 的低电平输出电压与 IRESET 间的关系图 6-20 TPS3840PH49 的低电平输出电压与 IRESET 间的关系
TPS3840 TPS3840PL49 的高电平输出电压与 IRESET 间的关系图 6-22 TPS3840PL49 的高电平输出电压与 IRESET 间的关系
TPS3840 TPS3840PH49 的高电平输出电压与 IRESET 间的关系图 6-24 TPS3840PH49 的高电平输出电压与 IRESET 间的关系
TPS3840 TPS3840DLXX 的手动复位逻辑低电平电压阈值随温度变化曲线图 6-26 TPS3840DLXX 的手动复位逻辑低电平电压阈值随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840PHXX 的手动复位逻辑低电平电压阈值随温度变化曲线图 6-28 TPS3840PHXX 的手动复位逻辑低电平电压阈值随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840PLXX 的手动复位逻辑高电平电压阈值随温度变化曲线图 6-30 TPS3840PLXX 的手动复位逻辑高电平电压阈值随温度变化曲线
TPS3840 VIT- 上的毛刺抑制与过驱间的关系（数据取自 TPS3840PL28）图 6-32 VIT- 上的毛刺抑制与过驱间的关系（数据取自 TPS3840PL28）
TPS3840 启动延时随温度变化曲线图 6-34 启动延时随温度变化曲线
TPS3840 复位延时时间与电容值间的关系（数据取自 TPS3840PL16）图 6-36 复位延时时间与电容值间的关系（数据取自 TPS3840PL16）
TPS3840 复位延时时间与大电容值间的关系（数据取自 TPS3840PL16）图 6-38 复位延时时间与大电容值间的关系（数据取自 TPS3840PL16）
TPS3840 从 MR 置为有效到复位的传播延时时间随温度变化曲线图 6-40 从 MR 置为有效到复位的传播延时时间随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840PL49 的电源电流与电源电压间的关系图 6-5 TPS3840PL49 的电源电流与电源电压间的关系
TPS3840 TPS3840DLXX 负向输入阈值精度随温度变化曲线图 6-7 TPS3840DLXX 负向输入阈值精度随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840PHXX 负向输入阈值精度随温度变化曲线图 6-9 TPS3840PHXX 负向输入阈值精度随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840PLXX 的输入阈值 VIT- 磁滞精度图 6-11 TPS3840PLXX 的输入阈值 VIT- 磁滞精度
TPS3840 TPS3840DL49 的输出电压与输入电压间的关系图 6-13 TPS3840DL49 的输出电压与输入电压间的关系
TPS3840 TPS3840PH49 的输出电压与输入电压间的关系图 6-15 TPS3840PH49 的输出电压与输入电压间的关系
TPS3840 TPS3840DL49 的低电平输出电压与 VDD 间的关系图 6-17 TPS3840DL49 的低电平输出电压与 VDD 间的关系
TPS3840 TPS3840PL49 的低电平输出电压与 VDD 间的关系图 6-19 TPS3840PL49 的低电平输出电压与 VDD 间的关系
TPS3840 TPS3840PH49 的低电平输出电压与 VDD 间的关系图 6-21 TPS3840PH49 的低电平输出电压与 VDD 间的关系
TPS3840 TPS3840PL49 的高电平输出电压随温度变化曲线图 6-23 TPS3840PL49 的高电平输出电压随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840PH49 的高电平输出电压随温度变化曲线图 6-25 TPS3840PH49 的高电平输出电压随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840PLXX 的手动复位逻辑低电平电压阈值随温度变化曲线图 6-27 TPS3840PLXX 的手动复位逻辑低电平电压阈值随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840DLXX 的手动复位逻辑高电平电压阈值随温度变化曲线图 6-29 TPS3840DLXX 的手动复位逻辑高电平电压阈值随温度变化曲线
TPS3840 TPS3840PHXX 的手动复位逻辑高电平电压阈值随温度变化曲线图 6-31 TPS3840PHXX 的手动复位逻辑高电平电压阈值随温度变化曲线
TPS3840 CT 引脚内部电阻随温度变化曲线图 6-33 CT 引脚内部电阻随温度变化曲线
TPS3840 无电容器时复位延时时间随温度变化曲线图 6-35 无电容器时复位延时时间随温度变化曲线
TPS3840 复位延时时间与小电容值间的关系（数据取自 TPS3840PL16）图 6-37 复位延时时间与小电容值间的关系（数据取自 TPS3840PL16）
TPS3840 VDD 降至 VIT- 以下（高电平至低电平）的传播检测延时时间随温度变化曲线图 6-39 VDD 降至 VIT- 以下（高电平至低电平）的传播检测延时时间随温度变化曲线
TPS3840 从 MR 释放为置为无效到复位的传播延时时间随温度变化曲线图 6-41 从 MR 释放为置为无效到复位的传播延时时间随温度变化曲线