ZHCSD40Q April 2012 – July 2025 LP5907
PRODUCTION DATA
请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。
任何封装的允许功率耗散可衡量器件将热量从电源(器件的接合点)传递到周围环境的最终散热器的能力。因此,功率耗散取决于环境温度以及芯片结与环境空气之间各种接口上的热阻。
给定封装内器件的最大允许功率耗散可使用方程式 1 计算:
器件中耗散的实际功率可通过方程式 2 表示:
这两个公式建立了与散热考虑有关的最大功率耗散、器件上的压降和器件的持续电流能力之间的关系。使用这两个公式确定器件在应用中的理想工作条件。
在功率耗散 (PD) 较小或封装热阻 (RθJA) 较好的应用中,可提高最高额定环境温度 (TA-MAX)。
在功率耗散较大或封装热阻较差的应用中,可降低最高额定环境温度 (TA-MAX)。如方程式 3 所示,TA-MAX 取决于应用中的最高工作结温 (TJ-MAX-OP = 125°C)、器件封装中允许的最大功率耗散 (PD-MAX) 以及器件或封装的结至环境热阻 (RθJA):
或者,如果 TA-MAX 无法降低,则必须减小 PD 值。这种降低可通过以下方式来实现:降低 VIN–VOUT 项中的 VIN(只要满足最小 VIN 条件)、减小 IOUT 项,或通过这两者的某种组合来实现。