ZHCSPB8C December   2021  – October 2024 BQ77207

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较表
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1 绝对最大额定值
    2. 6.2 ESD 等级
    3. 6.3 建议运行条件
    4. 6.4 热性能信息
    5. 6.5 DC 特性
    6. 6.6 时序要求
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 电压故障检测
      2. 7.3.2 开路故障检测
      3. 7.3.3 温度故障检测
      4. 7.3.4 振荡器运行状况检查
      5. 7.3.5 Vx 的检测正输入
      6. 7.3.6 输出驱动，COUT 和 DOUT
      7. 7.3.7 锁存功能
      8. 7.3.8 电源电压，VDD
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 正常模式
      2. 7.4.2 故障模式
      3. 7.4.3 客户测试模式
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
      1. 8.1.1 设计要求
      2. 8.1.2 详细设计过程
        1. 8.1.2.1 电池连接顺序
    2. 8.2 系统示例
  10. 9 电源相关建议
  11. 10布局
    1. 10.1 布局指南
    2. 10.2 布局示例
  12. 11器件和文档支持
    1. 11.1 第三方产品免责声明
    2. 11.2 接收文档更新通知
    3. 11.3 支持资源
    4. 11.4 商标
    5. 11.5 静电放电警告
    6. 11.6 术语表
  13. 12修订历史记录
  14. 13机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

6.5 DC 特性

所述典型值的条件是 TA = 25°C 且 VDD = 25V，最小值/最大值的条件是 TA = –40°C 至 85°C 且 VDD = 5V 至 38.5V（除非另有说明）。
参数 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
过压保护 (OV)
VOV OV 检测范围 3.55 5.1 V
VOV_STEP OV 检测步骤 25 mV
VOV_HYS OV 检测迟滞 所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 VOV - 50 mV
所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 VOV - 100 mV
VOV_ACC OV 检测精度 TA = 25°C
 		 -10 10 mV
OV 检测精度 0°C ≤ TA ≤ 60°C
 		 -20 20 mV
OV 检测精度 -40°C ≤ TA ≤ 110°C
 		 -50 50 mV
欠压保护 (UV)
VUV UV 检测范围 1.0 3.5 V
VUV_STEP UV 检测步骤 50 mV
VUV_HYS UV 检测迟滞 所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。  VUV + 50 mV
所选 OV 迟滞取决于器件型号。有关详细信息，请参阅器件选型表。 VUV + 100 mV
VUV_ACC UV 检测精度 TA = 25°C -30 30 mV
UV 检测精度 -40 ≤ TA ≤ 110°C -50 50 mV
VUV_MIN UV 检测禁用阈值 Vn - Vn-1（其中 n = 2 至 7）和 V1 - VSS 450 500 550 mV
过热保护 (OT)
TOT OT 检测范围 可用选项：62°C、65°C、70°C、75°C、80°C、83°C 62.0 83.0 °C
ROT_EXT_NTC NTC OT 检测外部电阻 2850 Ω
2570
2195
1915
1651
1525
ROT_EXT_PTC PTC OT 检测外部电阻 111100 Ω
TOT_ACC(1) OT 检测精度 (NTC) -5 5 °C
TOT_HYS(2) OT 检测迟滞 (NTC) -10 °C
4186 Ω
3530 Ω
RTC 内部上拉电阻器 TI 出厂修整后 19.4 20 20.6 kΩ
欠温保护 (UT)
TUT UT 检测阈值 -30.0 0.0 °C
RUT_EXT_NTC NTC UT 检测外部电阻 111100 Ω
68900
42200
  26700
RUT_ACC UT 检测外部电阻精度 -2% 2%
TUT_HYS UT 检测迟滞 (NTC) 10 °C
17800 Ω
TUT_ACC(1) UT 检测精度 (NTC) -5 5 °C
开路保护 (OW)
VOW OW 检测阈值 Vn < Vn-1，其中 n = 2 至 7 -200 mV
V1 - VSS 500 mV
VOW_HYS OW 检测迟滞 Vn < Vn-1，其中 n = 1 至 7 VOW +100 mV
VOW_ACC OW 检测精度 -40℃ ≤ TA ≤ 110℃ -25 25 mV
电源和漏电流
ICC 电源电流 未检测到故障。 2 3.5 µA
ICC_FAULT 电源电流 检测到故障，COUT 高电平有效 6V 输出，DOUT 低电平有效。其他故障 20 25 µA
ICC_FAULT 电源电流 检测到故障，COUT 高电平有效 6V 输出，DOUT 低电平有效。仅 UV 故障 3 5 µA
IIN(2) Vx 引脚处的输入电流 Vn - Vn-1 和 V1 - VSS = 4V，其中 n = 2 至 7，启用开路 -0.3 0.3 µA
Vn - Vn-1 和 V1 - VSS = 4V，其中 n = 2 至 7，禁用开路 -0.1 0.1 µA
输出驱动，COUT 和 DOUT，仅限 CMOS 高电平有效版本
VOUT_AH COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 6 V
COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 VDD VDD - VCOUT 或 VDOUT，Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，IOH = 10µA，通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 0 1 1.5 V
COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V VDD - VCOUT 或 VDOUT，如果 7 个电芯中的 6 个短路，只有一个电芯保持供电且 > VOV，VDD = Vx（电芯电压），IOH = 100µA， 0 1 1.5 V
COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，高电平有效 6V 和 VDD Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流入引脚的电流测得 250 400 mV
ROUT_AH 内部上拉电阻器 80 100 120 kΩ
IOUT_AH_H OUT 拉电流（OV 期间） Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = 0V。通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得 6.5 mA
IOUT_AH_L OUT 灌电流（无 OV） Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得 0.3 3 mA
输出驱动，COUT 和 DOUT，仅限 NCH 开漏低电平有效版本
VOUT_AL COUT 和 DOUT 的输出驱动电压，低电平有效 Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，IOH = 100µA，通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 250 400 mV
IOUT_AL_L OUT 拉电流（OV 期间） Vn - Vn-1 或 V1 - VSS > VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流入 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 0.3 3 mA
IOUT_AL_H OUT 灌电流（无 OV） Vn - Vn-1 和 V1 - VSS < VOV，其中 n = 2 至 7，VDD = 25V，OUT = VDD。通过流出 COUT、DOUT 引脚的电流测得。 100 nA
(1) 通过设计保证。该精度假设外部电阻在相应温度阈值的 R_OT_EXT 值的 ±2% 范围以内。
(2) 通过设计保证