4 疑难解答常见问题解答

问：可以堆叠的器件数量限制在多少？

答：bq77905 对堆叠中的器件数量没有技术限制。但请注意，堆叠的数量越多，噪音对 CTRC/D 信号强度的影响就越大，从堆叠顶部到底部的总延迟时间也会越长。这种延迟时间不是单个 DUT 保护层的增加，而是由于堆叠中的每个器件的逻辑传播造成的极小量的增加。通常，堆叠中的每个器件只会增加 1-10ms，必须确定对应用而言增量是否足够小。

问：如果下部器件支持的电池数多于上部器件会发生什么（例如，如果使 DUT#1 支持 5 个电池，DUT#4 支持 3 个电池）？

答：系统应该可以正常工作，但不建议这样做，因为这样会影响整个堆栈的 CTRC/D 信号强度。但代价是 FET 上的栅极电压降低，所以要自行确定一种选项是否优于另一种。

问：一个 DUT 若要仅支持 3 或 4 个电池，需要进行哪些改动？

答：如 Topic Link Label1.1 和数据表中所述，CCFG 引脚必须进行适当配置，未使用的电池必须始终选为最上方的电池，并短接至与其相邻的下方电池（例如，在 8S 电池组配置中，如果 DUT#1 中有 4 个电池，C4 应短接至 C3)。

问：如何在上部器件上实施针对 UV 故障发现 的负载检测 ？

答：如图 5-1 所示，将所有器件的 LD 引脚连接至 PACK - 通过等于 300kΩ 的 R_LD（R8、R18、R28、R44）以及一个阻断二极管。另外，R_{GS_CHG} (R48) 应从典型值 1MΩ 增加至 3.3MΩ。请参阅数据表 ( SLUSCM3) 了解进一步详情和说明。

问：如何能在不影响 UV 负载检测 的情况下缩短 CHG FET 关闭时间？

答：与其降低 R_{GS_CHG} (R48) 的值，更有效的方式是实现 CHG FET 关闭速度电路。bq77905 使用多个 FET (SLUA773) 应用手册的第 3 部分进行了更详细的解释。

问：如果使用小电池，底部器件的电池电压低于上部器件的电池。为什么会这样？如何才能避免这种情况的发生？

答：底部器件的负载大于上部器件，因为栅极-源极电阻器的 FET 驱动器负载 (图 5-1) R47 和 R48 小于上部器件的堆叠接口负载，例如 RCTR 电阻器 R32 和 R33。请参阅Topic Link Label3。

问：FET 已打开，但在 CTRC 或 CTRD 处测量的电压指示 FET 应为关闭。为什么会这样？

答：CTRC 和 CTRD 节点的阻抗源高。连接仪表后，例如在 图 4-1 中，仪表会成为电路的一部分，形成了一个分压器，改变了 CTRx 的电压。如果同时测量栅极电压，可能会观察到 FET 关闭。测量 CTRx 时考虑到 VDD 将减少仪表产生的影响。如果仪表输入可设为高阻抗，则能够得到更好的测量值，但仍会有负载。