ZHCSF48H March 2016 – March 2023 ISO7740 , ISO7741 , ISO7742
PRODUCTION DATA
绝缘寿命预测数据是使用业界通用的时间依赖性电介质击穿 (TDDB) 测试方法收集的。在该测试中,隔离栅两侧的所有引脚都连在一起,构成了一个双端子器件并在两侧之间施加高电压;对于 TDDB 测试设置,请参阅图 10-6。绝缘击穿数据是在开关频率为 60 Hz 以及各种高电压条件下在整个温度范围内收集的。对于增强型绝缘,VDE 标准要求使用故障率小于 1 ppm 的 TDDB 预测线。尽管额定工作隔离电压条件下的预期最短绝缘寿命为 20 年,但是 VDE 增强认证要求工作电压具有额外 20% 的安全裕度,寿命具有额外 50% 的安全裕度,也就是说在工作电压高于额定值 20% 的条件下,所需的最短绝缘寿命为 30 年。
图 10-7 展示了隔离栅在整个寿命期内承受高压应力的固有能力。根据 TDDB 数据,DW-16 封装的绝缘耐受能力为 1500VRMS,寿命为 169 年,如图 10-7 所示。同样,DWW-16 封装的绝缘耐受能力为 2000VRMS,相应的寿命为 34 年。在 400VRMS 工作电压下,DBQ-16 封装的寿命比 DW-16 和 DWW-16 封装长得多。封装尺寸、污染等级和材料组等因素可能会限制元件的工作电压。