1 引言

在较低速度 (<100kSPS) 下以高精度（>16 位）同时测量许多超低的电流电平 (<1µA) 时，工程师可以使用两种解决方案，即德州仪器 (TI) AFE 系列 X 射线模拟前端和 DDC 系列模数转换器 (ADC)。尽管最初设计用于医学成像应用，但这些器件也可用于仪器仪表、体外诊断应用以及任何其他具有大量光电二极管或同时测量许多电压的应用。

在这两个器件系列中，测量的电流都不是浮动（分流）的，而是从固定的直流电平吸收或拉取（参见图 2-1 和图 3-1），因为输入通过放大器的反馈作用虚短至某一电压，与分立跨阻放大器的情况一样。然而，与通过乘以电阻（在输入放大器的反馈中）将电流转换为电压的跨阻放大器不同，这两个系列都将积分器作为第一级。

这两个器件系列都将大部分所需元件集成到单个 IC 中，从而实现从电流输入到数字输出（两种情况下都是串行流）的功能。此功能可以调整满量程（输入增益）以优化特定应用的信噪比，甚至将相同的解决方案用于不同应用来创建平台设计。除了节省布板空间外，这种集成水平（具有由这些器件的数据表设置和支持的许多系统级规格）极大地简化了量产中的设计工作和测试策略，从而缩短了上市时间并降低了开发成本。

尽管许多应用都可以使用任一器件，但它们之间的差异非常显著，某一器件会更适合某一种给定的应用。在本文中，我们将解释原因。