数据表
AFE3256
- 256 通道
- 片上 16 位 ADC
- 高性能：
- 噪声：440 个电子 RMS （1.2pC 输入电荷范围）
- 低相关噪声
- 全通道积分非线性： 16 位时为 ±2 LSB
- 扫描时间：< 16µs 至 204.8µs
- 集成：
- 可编程满量程输入电荷量范围： 0.3pC 至 12.5pC，分辨率为 0.3pC
- 内部时序发生器 (TG)
- 内置相关双采样器
- 软件可编程电子或空穴积分模式
- 流水线式“集成和读取”，用于提高集成期间的吞吐量数据读取
- 串行 LVDS 输出
- 片上温度传感器
- 简单电源方案：
- 单个 1.85V 电源供电
- 多种功率模式，功耗范围为 1mW/通道至 2mW/通道
- 省电模式：睡眠和待机
- 分箱模式支持
- 定制 Chip-On-Film (COF) 封装
AFE3256 是一款 256 通道模拟前端 (AFE)，旨在满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的要求。此器件包括 256 个集成器、带双电源的相关双采样器 (CDS) 和 256:2 模拟多路复用器。该器件还具有两个 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自 ADC 的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。
该器件通常也称为读出集成电路 (ROIC)，可使用多种功耗模式和系统内调试选项等特性来优化整体系统性能。
睡眠和待机模式能够大幅降低功耗，这对于电池供电型系统至关重要。
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查看全部 3 | 类型 | 标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 数据表 | AFE3256 用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 数据表 | PDF | HTML | 最新英语版本 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 6月 27日 |
| 证书 | AFE3256EVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 2023年 9月 18日 | ||||
| 模拟设计期刊 | 选择多通道超低电流测量 IC | PDF | HTML | 英语版 | PDF | HTML | 2022年 1月 20日 |
设计和开发
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评估板
AFE3256EVM — AFE3256 适用于 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE) 评估模块
AFE3256 评估模块 (EVM) 用于评估 AFE3256 器件，后者是一款采用 Chip-On-Flex (COF) 封装的低功耗、低噪声电荷读取 IC（电荷数字转换器）。该 EVM 包含一块模拟电路板，可与 TSWDC155EVM (FPGA EVM) 无缝集成以进行数据采集。该 EVM 包括所有必要的控制信号和板载电源，大大降低了对外部设备的需求。此 EVM 还包括适用于 Microsoft® Windows® 的易于使用的软件，支持快速评估器件特性和性能。
模拟工具
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| 封装 | 引脚 | 下载 |
|---|---|---|
| COF (TFU) | 320 | 查看选项 |
订购和质量
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