AFE3256

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适用于动态和半动态 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE)

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Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
COF (TFU) 320 1064 mm² 38 x 28 COF (TFV) 315 831.84 mm² 48 x 17.33
  • 256 通道
  • 片上 16 位 ADC
  • 高性能:
    • 噪声:440 个电子 RMS (1.2pC 输入电荷范围)
    • 低相关噪声
    • 全通道积分非线性: 16 位时为 ±2 LSB
    • 扫描时间:< 16µs 至 204.8µs
  • 集成:
    • 可编程满量程输入电荷量范围: 0.3pC 至 12.5pC,分辨率为 0.3pC
    • 内部时序发生器 (TG)
    • 内置相关双采样器
    • 软件可编程电子或空穴积分模式
    • 流水线式“集成和读取”,用于提高集成期间的吞吐量数据读取
    • 串行 LVDS 输出
    • 片上温度传感器
  • 简单电源方案:
    • 单个 1.85V 电源供电
  • 多种功率模式,功耗范围为 1mW/通道至 2mW/通道
  • 省电模式:睡眠和待机
  • 分箱模式支持
  • 定制 Chip-On-Film (COF) 封装
  • 256 通道
  • 片上 16 位 ADC
  • 高性能:
    • 噪声:440 个电子 RMS (1.2pC 输入电荷范围)
    • 低相关噪声
    • 全通道积分非线性: 16 位时为 ±2 LSB
    • 扫描时间:< 16µs 至 204.8µs
  • 集成:
    • 可编程满量程输入电荷量范围: 0.3pC 至 12.5pC,分辨率为 0.3pC
    • 内部时序发生器 (TG)
    • 内置相关双采样器
    • 软件可编程电子或空穴积分模式
    • 流水线式“集成和读取”,用于提高集成期间的吞吐量数据读取
    • 串行 LVDS 输出
    • 片上温度传感器
  • 简单电源方案:
    • 单个 1.85V 电源供电
  • 多种功率模式,功耗范围为 1mW/通道至 2mW/通道
  • 省电模式:睡眠和待机
  • 分箱模式支持
  • 定制 Chip-On-Film (COF) 封装

AFE3256 是一款 256 通道模拟前端 (AFE),旨在满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的要求。此器件包括 256 个集成器、带双电源的相关双采样器 (CDS) 和 256:2 模拟多路复用器。该器件还具有两个 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自 ADC 的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。

该器件通常也称为读出集成电路 (ROIC),可使用多种功耗模式和系统内调试选项等特性来优化整体系统性能。

睡眠和待机模式能够大幅降低功耗,这对于电池供电型系统至关重要。

AFE3256 是一款 256 通道模拟前端 (AFE),旨在满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的要求。此器件包括 256 个集成器、带双电源的相关双采样器 (CDS) 和 256:2 模拟多路复用器。该器件还具有两个 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自 ADC 的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。

该器件通常也称为读出集成电路 (ROIC),可使用多种功耗模式和系统内调试选项等特性来优化整体系统性能。

睡眠和待机模式能够大幅降低功耗,这对于电池供电型系统至关重要。

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技术文档

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* 数据表 AFE3256 用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 数据表 PDF | HTML 最新英语版本 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 6月 27日
证书 AFE3256EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2023年 9月 18日
模拟设计期刊 选择多通道超低电流测量 IC PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2022年 1月 20日

设计和开发

如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。

评估板

AFE3256EVM — AFE3256 适用于 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE) 评估模块

AFE3256 评估模块 (EVM) 用于评估 AFE3256 器件,后者是一款采用 Chip-On-Flex (COF) 封装的低功耗、低噪声电荷读取 IC(电荷数字转换器)。该 EVM 包含一块模拟电路板,可与 TSWDC155EVM (FPGA EVM) 无缝集成以进行数据采集。该 EVM 包括所有必要的控制信号和板载电源,大大降低了对外部设备的需求。此 EVM 还包括适用于 Microsoft® Windows® 的易于使用的软件,支持快速评估器件特性和性能。

模拟工具

PSPICE-FOR-TI — 适用于 TI 设计和模拟工具的 PSpice®

PSpice® for TI 可提供帮助评估模拟电路功能的设计和仿真环境。此功能齐全的设计和仿真套件使用 Cadence® 的模拟分析引擎。PSpice for TI 可免费使用,包括业内超大的模型库之一,涵盖我们的模拟和电源产品系列以及精选的模拟行为模型。

借助 PSpice for TI 的设计和仿真环境及其内置的模型库,您可对复杂的混合信号设计进行仿真。创建完整的终端设备设计和原型解决方案,然后再进行布局和制造,可缩短产品上市时间并降低开发成本。

在 PSpice for TI 设计和仿真工具中,您可以搜索 TI (...)
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COF (TFU) 320 查看选项
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订购和质量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息:
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

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支持和培训

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