ZHDA306 September   2026 OPA192 , PGA855

 

  1.   1
  2.   摘要
  3.   商标
  4. 1简介
  5. 2详细说明
    1. 2.1 ATE 测试板卡和信号检测
    2. 2.2 信号检测要求
    3. 2.3 信号检测
    4. 2.4 通用检测
    5. 2.5 精密信号检测
      1. 2.5.1 中高压信号
      2. 2.5.2 中高共模电压下的电流信号
      3. 2.5.3 需要极低电流泄漏的信号
      4. 2.5.4 高速电压信号
      5. 2.5.5 超高压信号
  6. 3总结
  7. 4参考资料

1 简介

ATE 系统用于半导体芯片测试。每颗芯片在交付客户或产品制造商之前，都必须通过各项测试用例。因此，ATE 系统在半导体制造环节中发挥至关重要的作用。系统需要具备高速性能，可在数秒内完成复杂测试，而非耗时数小时之久；高速意味着测试时长更短、测试成本更低。此外，随着半导体工艺技术不断进步，芯片的信号精度持续提升，ATE 测试系统也需具备更高的测量精度。最后，ATE 系统需要具备可扩展性。ATE 系统拥有上千个通道，可同时对数百颗芯片执行同一组测试用例，这就要求所有测试通道具备相同的功能与性能。