ZHCSXL2A December 2024 – June 2025 MSPM0L1116 , MSPM0L1117
PRODUCTION DATA
温度传感器提供随器件温度呈线性变化的电压输出。温度传感器输出在内部连接到其中一个 ADC 输入通道，以实现温度数字转换。
出厂常量存储器区域中提供了温度传感器的器件特定单点校准值。该校准值表示与在 12 位模式下使用 1.4V 内部 VREF 在出厂修整温度 (TSTRIM) 下测量的温度传感器相对应的 ADC 转换结果（采用 ADC 代码格式）。
上述测量的 ADC 和 VREF 配置如下：RES=0（12 位模式），VRSEL=2h（内部基准），BUFCONFIG=1h (1.4V VREF)，ADC tSample=12.5µs。此校准值可与温度传感器温度系数 (TSc) 一起用于估算器件温度。
提供了一个额外的单位特定校准值 (VTRIM_0K)，用于计算每单位 TSc 性能。该校准值表示与在 12 位模式下使用 1.4V 内部 VREF 在 0°K（或 -273.15°C）测量的温度传感器相对应的 ADC 转换结果（采用 ADC 代码格式），并且存储在出厂常量存储器区域（在地址 0x41C4.0040 作为 TEMP_SENSE_0KELVIN）。
然后，可以使用以下公式计算温度系数 TSC：
示例
为了说明使用这种方法计算温度传感器系数的过程，下面提供了一个示例。
示例参数：
VSAMPLE = 0.6427V
VTRIM_0K = 1.2033V
TSAMPLE = 30°C
得到的特定于单元的温度系数的计算公式为：
有关如何通过出厂修整值估算器件温度的指导，请参阅 MSPM0 L 系列 32MHz 微控制器技术参考手册 中的“温度传感器”部分。