ZHCSJ15C November   2018  – March 2025 ADC12DJ3200QML-SP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 引脚配置和功能
  6. 5 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性：直流规格
    6. 5.6  电气特性：功耗
    7. 5.7  电气特性：交流规格（双通道模式）
    8. 5.8  电气特性：交流规格（单通道模式）
    9. 5.9  时序要求
    10. 5.10 开关特性
    11. 5.11 时序图
    12. 5.12 典型特性
  7. 6 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 模拟输入
        1. 6.3.1.1 模拟输入保护
        2. 6.3.1.2 满量程电压 (VFS) 调整
        3. 6.3.1.3 模拟输入失调电压调整
      2. 6.3.2 ADC 内核
        1. 6.3.2.1 ADC 工作原理
        2. 6.3.2.2 ADC 内核校准
        3. 6.3.2.3 ADC 超范围检测
        4. 6.3.2.4 误码率 (CER)
      3. 6.3.3 时间戳
      4. 6.3.4 时钟
        1. 6.3.4.1 无噪声孔径延迟调节（tAD 调节）
        2. 6.3.4.2 孔径延迟斜坡控制 (TAD_RAMP)
        3. 6.3.4.3 用于多器件同步和确定性延迟的 SYSREF 采集
          1. 6.3.4.3.1 SYSREF 位置检测器和采样位置选择（SYSREF 窗口）
          2. 6.3.4.3.2 自动 SYSREF 校准
      5. 6.3.5 数字下变频器（仅限双通道模式）
        1. 6.3.5.1 数控振荡器和复频混频器
          1. 6.3.5.1.1 NCO 快速跳频 (FFH)
          2. 6.3.5.1.2 NCO 选择
          3. 6.3.5.1.3 基本 NCO 频率设置模式
          4. 6.3.5.1.4 合理 NCO 频率设置模式
          5. 6.3.5.1.5 NCO 相位偏移设置
          6. 6.3.5.1.6 NCO 相位同步
        2. 6.3.5.2 抽取滤波器
        3. 6.3.5.3 输出数据格式
        4. 6.3.5.4 抽取设置
          1. 6.3.5.4.1 抽取因子
          2. 6.3.5.4.2 DDC 增益提升
      6. 6.3.6 JESD204B 接口
        1. 6.3.6.1 传输层
        2. 6.3.6.2 扰频器
        3. 6.3.6.3 链路层
          1. 6.3.6.3.1 代码组同步 (CGS)
          2. 6.3.6.3.2 初始通道对齐序列 (ILAS)
          3. 6.3.6.3.3 8b、10b 编码
          4. 6.3.6.3.4 帧和多帧监控
        4. 6.3.6.4 物理层
          1. 6.3.6.4.1 串行器/解串器预加重功能
        5. 6.3.6.5 JESD204B 启用
        6. 6.3.6.6 多器件同步和确定性延迟
        7. 6.3.6.7 在子类 0 系统中运行
      7. 6.3.7 报警监控
        1. 6.3.7.1 NCO 翻转检测
        2. 6.3.7.2 时钟翻转检测
      8. 6.3.8 温度监测二极管
      9. 6.3.9 模拟基准电压
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 双通道模式
      2. 6.4.2 单通道模式（DES 模式）
      3. 6.4.3 JESD204B 模式
        1. 6.4.3.1 JESD204B 输出数据格式
        2. 6.4.3.2 双 DDC 和冗余数据模式
      4. 6.4.4 断电模式
      5. 6.4.5 测试模式
        1. 6.4.5.1 串行器测试模式详细信息
        2. 6.4.5.2 PRBS 测试模式
        3. 6.4.5.3 斜坡测试模式
        4. 6.4.5.4 近程和远程传输测试模式
          1. 6.4.5.4.1 近程传输测试模式
          2. 6.4.5.4.2 远程传输测试模式
        5. 6.4.5.5 D21.5 测试模式
        6. 6.4.5.6 K28.5 测试模式
        7. 6.4.5.7 重复 ILA 测试模式
        8. 6.4.5.8 修改的 RPAT 测试模式
      6. 6.4.6 校准模式和修整
        1. 6.4.6.1 前台校准模式
        2. 6.4.6.2 后台校准模式
        3. 6.4.6.3 低功耗后台校准 (LPBG) 模式
      7. 6.4.7 偏移校准
      8. 6.4.8 修整
      9. 6.4.9 偏移滤波
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 使用串行接口
        1. 6.5.1.1 SCS
        2. 6.5.1.2 SCLK
        3. 6.5.1.3 SDI
        4. 6.5.1.4 SDO
        5. 6.5.1.5 流模式
    6. 6.6 寄存器映射
      1. 6.6.1 寄存器说明
      2. 6.6.2 SYSREF 校准寄存器（0x2B0 至 0x2BF）
      3. 6.6.3 警报寄存器 (0x2C0至0x2C2)
  8. 7 应用信息免责声明
    1. 7.1 应用信息
      1. 7.1.1 模拟输入
      2. 7.1.2 模拟输入带宽
      3. 7.1.3 时钟
      4. 7.1.4 辐射环境建议
        1. 7.1.4.1 单粒子闩锁 (SEL)
        2. 7.1.4.2 单粒子功能中断 (SEFI)
        3. 7.1.4.3 单粒子翻转 (SEU)
    2. 7.2 典型应用
      1. 7.2.1 设计要求
      2. 7.2.2 详细设计过程
        1. 7.2.2.1 射频输入信号路径
        2. 7.2.2.2 计算交流耦合电容的值
      3. 7.2.3 应用曲线
    3. 7.3 初始化设置
    4.     电源相关建议
      1. 7.4.1 电源时序
    5. 7.4 布局
      1. 7.4.1 布局指南
      2. 7.4.2 布局示例
  9. 8 器件和文档支持
    1. 8.1 器件支持
      1. 8.1.1 开发支持
    2. 8.2 文档支持
      1. 8.2.1 相关文档
    3. 8.3 第三方产品免责声明
    4. 8.4 接收文档更新通知
    5. 8.5 支持资源
    6. 8.6 商标
    7. 8.7 静电放电警告
    8. 8.8 术语表
  10. 9 修订历史记录
  11. 10机械、封装和可订购信息

5.5 电气特性：直流规格

TA = 25°C，VA19 = 1.9V，VA11 = 1.1V，VD11 = 1.1V，默认满量程电压 (FS_RANGE_A = FS_RANGE_B = 0xA000)，单通道模式下应用至 INA± 的输入信号，fIN = 347 MHz，AIN = –1dBFS，fCLK = 最大额定时钟频率，滤波 1-VPP 正弦波时钟，JMODE = 1，以及后台校准（除非另外指明）；最小值和最大值在建议运行条件 表中提供的标称电源电压和工作温度范围内
参数测试条件子组(1)最小值典型值最大值单位
直流精度
分辨率无代码丢失时的分辨率12位
DNL微分非线性距离理想步长的最大正偏移0.4LSB
距离理想步长的最大负偏移-0.3LSB
INL积分非线性距离理想传递函数的最大正偏移3LSB
距离理想传递函数的最大负偏移-2LSB
模拟输入（INA+、INA–、INB+、INB–）
VOFF偏移误差CAL_OS = 0±2.0mV
CAL_OS = 1±0.5mV
VOFF_ADJ输入失调电压调节范围可用的偏移校正范围（请参阅 CAL_CFG0 寄存器或 OADJ_A_FG0_VINA 寄存器中的 CAL_OS 位）±55mV
VOFF_DRIFT偏移漂移仅限标称温度下的前台校准23µV/°C
每个温度下的前台校准0
VIN_FSR模拟差分输入满量程默认满量程电压 (FS_RANGE_A = FS_RANGE_B = 0xA000)[1、2、3]750810850mVPP
最大满量程电压 (FS_RANGE_A = FS_RANGE_B = 0xFFFF)1050
最小满量程电压 (FS_RANGE_A = FS_RANGE_B = 0x2000)490
VIN_FSR_DRIFT模拟差分输入满量程范围漂移默认 FS_RANGE_A 和 FS_RANGE_B 设置，仅在标称温度下进行前台校准，由 50Ω 源驱动的输入，包括 RIN 漂移的影响-0.01%/°C
默认 FS_RANGE_A and FS_RANGE_B 设置，每个温度下的前台校准，由 50Ω 源驱动的输入，包括 RIN 漂移的影响-0.022
VIN_FSR_MATCH模拟差分输入满量程范围匹配INA± 和 INB± 之间的匹配，默认设置，双通道模式1%
RINAGND 单端输入电阻每个输入引脚端接至 AGND，在 TA = 25°C 时测量[1]485052Ω
RIN_TEMPCO输入终端线性温度系数14.7mΩ/°C
CIN单端输入电容在 DC 时为单通道模式0.4pF
在 DC 时为双通道模式0.4
温度二极管特性 (TDIODE+、TDIODE-)
ΔVBE温度二极管电压斜率100 µA 的强制正向电流；失调电压（在 0°C 下约为 0.792V）随工艺变化，必须针对每个器件进行测量；在器件未上电或 PD 引脚置位的情况下执行失调电压测量，可更大限度地减少器件自发热；只有在进行偏移测量时，才需要将 PD 引脚置为有效达足够长的时间-1.6mV/°C
带隙电压输出 (BG)
VBG基准输出电压IL ≤ 100µA1.1V
VBG_DRIFT基准输出温度漂移IL ≤ 100µA-102µV/°C
时钟输入（CLK+、CLK–、SYSREF+、SYSREF–、TMSTP+、TMSTP–）
ZT内部端接DEVCLK_LVPECL_EN = 0、SYSREF_LVPECL_EN = 0 且 TMSTP_LVPECL_EN = 0 时的差分终端100Ω
在 DEVCLK_LVPECL_EN = 0、SYSREF_LVPECL_EN = 0、TMSTP_LVPECL_EN = 0 时单端终端至 GND （每引脚）50
VCM输入共模电压自偏置交流耦合时 CLK± 的自偏置共模电压（DEVCLK_LVPECL_EN 必须设置为 0)0.3V
在交流耦合时（SYSREF_LVPECL_EN 必须设置为 0）且接收器启用 (SYSREF_RECV_EN = 1) 时，SYSREF± 的自偏置共模电压0.3
在交流耦合（SYSREF_LVPECL_EN 必须设置为 0）且接收器被禁用 (SYSREF_RECV_EN = 0) 时，SYSREF± 的自偏置共模电压VA11
CL_DIFF差分输入电容正负差分输入引脚之间0.1pF
CL_SE单端输入电容每个输入端接地0.5pF
串行器/解串器输出（DA[7:0]+、DA[7:0]–、DB[7:0]+、DB[7:0]–）
VOD差分输出电压，峰峰值100-Ω 负载[1、2、3]550600650mVPP-DIFF
VCM输出共模电压交流耦合VD11 / 2V
ZDIFF差分输出阻抗100Ω
CMOS 接口（SCLK、SDI、SDO、SCS、PD、NCOA0、NCOA1、NCOB0、NCOB1、CALSTAT、CALTRIG、ORA0、ORA1、ORB0、ORB1、SYNCSE）
IIH高电平输入电流[1、2、3]40µA
IIL低电平输入电流[1、2、3]-40µA
CI输入电容2pF
VOH高电平输出电压ILOAD = -400µA[1、2、3]1.65V
VOL低电平输出电压ILOAD = 400µA[1、2、3]150mV
(1) 有关子组定义，请参阅表 5-1。